Introduction du produit
La station de mesure MP-H est adaptée aux laboratoires de recherche et développement, leur permettant d'investir leur budget une seule fois. La technologie de déplacement du mandrin peut répondre à vos besoins en matière de test efficace de toute la plaquette.
Caractéristiques du produit
1. Plateau micropositionneur relevable en trois étages pour un positionnement précis et une séparation rapide des sondes;
2. Microscope métallographique standard, test Pad supérieur à 1 μm;
3. Peut être équipé d'un laser pour les tests de FA/découpe au laser ;
4. Technologie de déplacement du mandrin commandée pneumatiquement pour sortir rapidement le mandrin.
Paramètres du produit
Modèle de prober manuel |
MP-M4/MP-M6/MP-M6mini |
MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12 |
MP-H6/MP-H8/MP-H12 |
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Mandrin |
Matériau de la pince |
Acier inoxydable/cuivre plaqué nickel ou or |
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Levée de la pince |
N/A |
Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 6 mm |
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Déplacement rapide |
N/A |
N/A |
√ |
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Levée de la plateforme micrométrique |
N/A |
N/A |
Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 40 mm, réglage grossier de 300 mm μm |
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Microscope |
Microscope standard à corps fixe (miroir de microscope vidéo en option), pouvant être agrandi jusqu'à 100X |
Microscope métallographique standard PSM-1000 / en option (microscope métallographique GX-6, stéréo, vidéo), il peut être agrandi jusqu'à 2000X , et le microscope peut être ajusté vers le haut et le bas par commande pneumatique |
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Sonde spécification |
Fuite de courant |
Coaxial 1pA/V @ 25 °C ; Trois arbres 100fA/V @ 25 °C ; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Conditions de test : environnement sec pour le blindage de mise à la terre (point de rosée de l'air inférieur à -40 °C) |
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Type de connecteur |
Embout banane/Clip crocodile/Interface coaxiale/triaxiale |
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Application de test |
Test DC/(IV, CV) Test de faible courant (classe 100fA) test de bruit 1/f Test de caractérisation du dispositif WLR, test de vieillissement Fréquence de test RF jusqu'à 110 GHz Test haute puissance/haut courant/haute tension |
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Test d'analyse de défaillance |
Test d'analyse de défaillance |
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