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Série MP-E Prober manuel de plaquettes

Introduction du produit

La station de mesure MP-H est adaptée aux laboratoires de recherche et développement, leur permettant d'investir leur budget une seule fois. La technologie de déplacement du mandrin peut répondre à vos besoins en matière de test efficace de toute la plaquette.

Caractéristiques du produit

1. Plateau micropositionneur relevable en trois étages pour un positionnement précis et une séparation rapide des sondes;

2. Microscope métallographique standard, test Pad supérieur à 1 μm;

3. Peut être équipé d'un laser pour les tests de FA/découpe au laser ;

4. Technologie de déplacement du mandrin commandée pneumatiquement pour sortir rapidement le mandrin.

Paramètres du produit

Modèle de prober manuel

MP-M4/MP-M6/MP-M6mini

MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12

MP-H6/MP-H8/MP-H12

Mandrin

Matériau de la pince

Acier inoxydable/cuivre plaqué nickel ou or

Levée de la pince

N/A

Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 6 mm

Déplacement rapide

N/A

N/A

Levée de la plateforme micrométrique

N/A

N/A

Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 40 mm, réglage grossier de 300 mm μm

Microscope

Microscope standard à corps fixe (miroir de microscope vidéo en option), pouvant être agrandi jusqu'à 100X

Microscope métallographique standard PSM-1000 / en option (microscope métallographique GX-6, stéréo, vidéo), il peut être agrandi jusqu'à 2000X , et le microscope peut être ajusté vers le haut et le bas par commande pneumatique

Sonde

spécification

Fuite de courant

Coaxial 1pA/V @ 25 °C ; Trois arbres 100fA/V @ 25 °C ; Triaxial 10pA@3kV @25°C,

Conditions de test : environnement sec pour le blindage de mise à la terre (point de rosée de l'air inférieur à -40 °C)

Type de connecteur

Embout banane/Clip crocodile/Interface coaxiale/triaxiale

Application de test

Test DC/(IV, CV)

Test de faible courant (classe 100fA)

test de bruit 1/f

Test de caractérisation du dispositif

WLR, test de vieillissement

Fréquence de test RF jusqu'à 110 GHz

Test haute puissance/haut courant/haute tension

/

Test d'analyse de défaillance

Test d'analyse de défaillance

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