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La Solution de Détection par Ellipsométrie dans l'Industrie des Circuits Intégrés IC
15 May 2025

La Solution de Détection par Ellipsométrie dans l'Industrie des Circuits Intégrés IC

La conception de circuits intégrés, également appelée conception d'integrated circuits, a une grande précision dans la technologie de processus nano, et plus la précision est élevée, plus le processus de production est avancé. Lorsque plus de transistors sont intégrés dans le processeur, le circuit peut réaliser...

Solution de Microscope à Balayage Ultrasonore pour l'Industrie des Semi-Conducteurs
27 Feb 2025

Solution de Microscope à Balayage Ultrasonore pour l'Industrie des Semi-Conducteurs

Offre une flexibilité pour vos départements de production et de laboratoire. Fournit des fonctionnalités de FA Lab de haute qualité pour les installations semi-conductrices. Catégories : Électrique & Électronique, Inspection, Équipement de Test & Mesure, OKOS, Microscope à Balayage Acoustique (SAM), Semi-Conducteur.

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