Série MP-E Prober manuel de plaquettes , China Série MP-E Prober manuel de plaquettes Manufacturers, Suppliers, Factory

Introduction du produit :

La série MP-E est une station de mesure fonctionnellement avancée, capable d'examiner la taille des électrodes/pads supérieure à 1 μm et pouvant être mise à niveau avec des fonctions de test à moindre coût.

Caractéristiques du produit:

1. Le plateau peut être relevé ou abaissé pour un détachement rapide de la sonde par rapport à l'échantillon ;

2. Microscope métallographique standard, test des pads supérieur à 1 μm ;

3. Peut être équipé d'un laser pour les tests de FA/découpe au laser ;

4. Levée pneumatique rapide du microscope, permettant un changement facile du microscope et du support de carte de sonde ;

5. Base d'isolation adaptative POMater ;

6. Utilisation de matériaux amortisseurs importés d'Allemagne afin d'améliorer la stabilité du test.

Paramètres du produit :

Modèle de prober manuel		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Mandrin	Matériau de la pince	Acier inoxydable/cuivre plaqué nickel ou or
	Levée de la pince	N/A	Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 6 mm
	Déplacement rapide	N/A	N/A	√
Levée de la plateforme micrométrique		N/A	N/A	Montée rapide de 5 mm, réglage fin de 40 mm, réglage grossier de 300 mm μm
Microscope		Microscope standard à corps fixe (miroir de microscope vidéo en option), pouvant être agrandi jusqu'à 100X	Microscope métallographique standard PSM-1000 / en option (microscope métallographique GX-6, stéréo, vidéo), il peut être agrandi jusqu'à 2000X , et le microscope peut être ajusté vers le haut et le bas par commande pneumatique
Sonde spécification	Fuite de courant	Coaxial 1pA/V @ 25 °C ; Trois arbres 100fA/V @ 25 °C ; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Conditions de test : environnement sec pour le blindage de mise à la terre (point de rosée de l'air inférieur à -40 °C)
	Type de connecteur	Embout banane/Clip crocodile/Interface coaxiale/triaxiale
Application de test		Test DC/(IV, CV) Test de faible courant (classe 100fA) test de bruit 1/f Test de caractérisation du dispositif WLR, test de vieillissement Fréquence de test RF jusqu'à 110 GHz Test haute puissance/haut courant/haute tension
		/	Test d'analyse de défaillance	Test d'analyse de défaillance