Prober de plaquettes sous vide à haute et basse température , China Prober de plaquettes sous vide à haute et basse température Manufacturers, Suppliers, Factory

Introduction du produit

La station de mesure de la série MDSM-VP-CG peut effectuer des tests de caractéristiques IV/CV, des tests RF, des tests photoélectriques, des caractéristiques de transport électromagnétique et des tests d'effet Hall pour la caractérisation de dispositifs et de matériaux dans un environnement sous ultra-vide et à hautes et basses températures.

En intégrant des composants tels qu'une chambre à vide et un écran de protection contre les rayonnements, cette station combine des conditions de test haute température, basse température et vide, permettant ainsi de répondre efficacement aux besoins en offrant un environnement d'essai stable pour les dispositifs semiconducteurs.

Caractéristiques du produit

1. Peut supporter une plage de température de 4,2 K à 473 K

2. Conception d'un écran anti-rayonnement pour améliorer l'uniformité et la précision de la température de l'échantillon

3. Conception du dissipateur thermique de la pointe de mesure pour garantir une descente précise de la température de la pointe

4. Champ magnétique intégré évolutif

5. Configuration souple et extensible des applications de test

6. Contrôle automatique du débit du réfrigérant et régulation automatique précise de la température

Paramètres du produit

Modèle		MDSM-VP-CG-O-2	MDSM-VP-CG-O-4	MDSM-VP-CG-C-2
Mandrin	Taille	2pouce	4 pouces	2pouce
	Méthode de fixation de l'échantillon	Graisse thermique sous vide/pression par ressort
	Degré de vide	vide maximal 10^-10 torr
Optique propriétés	Course du microscope	Axe R 360 ° + axe mobile 100 mm
	Gain	Zoom : 7:1, résolution 4 μm (grossissement 216X) ou microscope métallographique (20X~1000X)
	Dimensions de fenêtre d'observation	2pouce	4 pouces	2pouce
Température contrôle cARACTÉRISTIQUES	Pixel CCD	50W (simulation)/200 W (numérique)/500 W (numérique)
	Méthode de refroidissement	Azote liquide/hélium liquide		Compresseurs de réfrigération
	Méthode de contrôle	Contrôle manuel/automatique du débit de réfrigérant en cycle ouvert		Contrôle automatique en boucle fermée
	Autonomie	77 K~473 K/4,2 K~473 K		7,3 K~473 K
	Résolution	0,001 K
	Stabilité	4,2 K ±0,2 K à 77 K±0,1 K à 373 K±0,08 K à 473 K±0,1 K
Spécification de la sonde	Numéro de sonde	Le nombre de diverses sondes peut être étendu jusqu'à 6
	Régulation de la sonde	Réglage externe du soufflet sous vide, commande manuelle
	Précision des points	2μm
	Fuite de courant	1pA/V @25 ℃，100fA/V @25℃
	Type de connecteur	Interface triaxial/SMA/K/fibre optique