MP-E Serie manueller Waferprober , China MP-E Serie manueller Waferprober Manufacturers, Suppliers, Factory

Produkteinführung

Die Probestation der MP-H-Serie eignet sich für Forschungs- und Entwicklungs-labore und ermöglicht es ihnen, ihr Budget einmalig zu investieren. Die Chuck-Bewegungstechnologie kann Ihre Anforderungen an eine effiziente Prüfung des gesamten Wafers erfüllen.

Produktmerkmale

1. Dreistufiger, hebebaren Mikropositioniertisch für präzise Positionierung und schnelle Trennung der Probes;

2. Standard-Metallographiemikroskop, Pad-Test über 1 μm;

3. Kann mit einem Laser für FA-Tests/Laserschneiden ausgestattet werden;

4. Pneumatisch gesteuerte Spannbacken-Bewegungstechnologie zum schnellen Ausfahren der Spannbacken.

Produktparameter

Manuelles Prüfgerät-Modell		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Futter	Chuck-Material	Edelstahl/vernickelt oder vergoldetes Kupfer
	Spannheber	N/A	Schnellhub 5 mm, Feinverstellung 6 mm
	Schnell bewegen	N/A	N/A	√
Mikroverstellplattform-Heber		N/A	N/A	Schnellhebung 5 mm, Feineinstellung 40 mm, Grobeinstellung 300 μm
Mikroskop		Standardmikroskop mit Körper (optionaler Video-Mikroskop-Spiegel), bis zu 100-fache Vergrößerung	Standard-PSM-1000-Metallographiemikroskop / optional (GX-6 Metallographie-, Stereomikroskop, Video) Mikroskop, bis zu 2000-fache Vergrößerung , und das Mikroskop kann per Luftsteuerung in der Höhe verstellt werden
Sonde spezifikation	Stromleckage	Koaxial 1 pA/V @ 25 °C; Dreiwellen 100fA/V @ 25 °C; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Prüfbedingungen: trockene Umgebung für Erdungsschirm (Taupunkt der Luft niedriger als -40 °C)
	Typ des Steckers	Banana-Stecker/Krokodilklemme/koaxiale/triachiale Schnittstelle
Testanwendung		DC/(IV, CV)-Prüfung Niedrigstromprüfung (Klasse 100fA) 1/f-Rauschtest Gerätecharakterisierungstest WLR-, Alterungsprüfung HF-Testfrequenz bis zu 110 GHz Hochleistungs-/Hochstrom-/Hochspannungsprüfung
		/	Ausfallanalyseprüfung	Ausfallanalyseprüfung