Das Ultraschall-Scanning-Mikroskop der Serie MDHWS661 ist eine Art zerstörungsfreier Prüf- und Bildgebungsanlage, bei der Ultraschall als Ausbreitungsmedium verwendet wird. Es dient hauptsächlich der Untersuchung verschiedenster Halbleiterbauelemente und -materialien mittels hochfrequenter Ultraschallwellen und kann innere Fehler wie Poren, Risse, Einschlüsse und Delaminationen im Probenmaterial detektieren und grafisch darstellen.
während des Scanning-Prozesses entsteht keinerlei Schaden am Probekörper, die Leistungsfähigkeit der Probe bleibt unbeeinflusst, und die Anforderungen der Branchen für neue Energien, Halbleiter, Leistungselektronik, thermisches Management, Diamant-Verbundwerkstoffe, Kohlenstofffaserverbundwerkstoffe sowie weiterer Industriebereiche können effektiv erfüllt werden.