Das MDHWS114-Ultraschall-Scanning-Mikroskop ist ein zerstörungsfreies Prüfgerät zur bildgebenden Untersuchung, das Ultraschall als Trägermedium nutzt. Es dient hauptsächlich der Detektion verschiedenster Halbleiterbauelemente und -materialien mittels hochfrequenter Ultraschallwellen und kann innere Defekte wie Löcher, Risse, Einschlüsse und Delaminationen im Probenmaterial erkennen und grafisch darstellen.
Während des Scanning-Prozesses entsteht am Probekörper keinerlei Schaden, die Leistungsfähigkeit des Probekörpers bleibt unbeeinflusst, und die Anforderungen der Branchen für neue Energien, Halbleiter, Leistungselektronik, thermisches Management, Diamant-Verbundwerkstoffe sowie kohlenstofffaserverstärkte Verbundwerkstoffe können effektiv erfüllt werden.