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Hoch- und Niedrigtemperatur-Waferprober

Produkteinführung

Die HLTP-C-Serie Prober verfügt über ein hervorragendes mechanisches System, eine stabile Strukturleistung, eine intuitive und einfache Bedienung, unterstützt Mehrfachfunktions-Upgrades und bietet umfangreiche und umfassende Funktionen. Dieses Produkt wird hauptsächlich in der integrierten Schaltungstechnik, LED-, LCD-, Solarzellen- und Halbleiterindustrie für Fertigung und Forschung eingesetzt.

Produktmerkmale

1. Innovative, luftbetätigte Plattform zum Verschieben des Spannfutters;

2. Höhenverstellbare Mikropositionierplattform;

3. Fortschrittliche 3x-Bildgebungstechnologie, deutlich verbesserte Testeffizienz;

4. Abschirmgehäuse-Strukturdesign.

Produktparameter

Modell

HLTP-C6

HLTP-C8

HLTP-C12

Futter

Größe

6 Zoll

8-Zoll

12 Zoll

205*205 mm

205*205 mm

305*305mm

Reisen

210MM

210MM

290MM

Mindestverschiebung

1μm

EMI-Abschirmung

Mehrfachvergrößerungs-Optiksystem

15:1-Zoom-Mikroskop mit drei Geschwindigkeitsstufen, kann gleichzeitig 3 Dateien anzeigen

Temperatur

kONTROLLE

eigenschaften

Reichweite

-60℃~300℃

Auflösung

0.01

Minimale Temperaturregelrate

±0,1 °C/h

Kühlmethode

Flüssigstickstoff/Luft

Anfrage

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