Vakuum-Waferprüfvorrichtung für hohe und niedrige Temperaturen , China Vakuum-Waferprüfvorrichtung für hohe und niedrige Temperaturen Manufacturers, Suppliers, Factory

Produkteinführung

Die Probeneinspannstation der Serie MDSM-VP-CG kann IV-/CV-Kennlinientests, HF-Tests, photoelektrische Tests, elektromagnetische Transporteigenschaften und Hall-Effekt-Tests für die Charakterisierung von Bauelementen und Materialien unter Ultrahochvakuum- sowie Hoch- und Tieftemperaturbedingungen bereitstellen.

Durch die Einrichtung von Komponenten wie einer Vakuumkammer und einer Strahlungsschutzabschirmung können integrierte Hochtemperatur-, Tieftemperatur- und Vakuumtestbedingungen effektiv erfüllt und eine stabile Testumgebung für Halbleiterbauelemente bereitgestellt werden.

Produktmerkmale

1. Kann Temperaturen von 4,2 K bis 473 K unterstützen

2. Strahlungsschutz-Abschirmdesign zur Verbesserung der Temperaturgleichmäßigkeit und -genauigkeit der Probe

3. Kühlkörperdesign für die Sonde, um einen genauen Sondendruck sicherzustellen

4. Nachrüstbarer Magnetfeldaufbau

5. Flexible und skalierbare Konfiguration der Testanwendung

6. Automatische Steuerung des Kältemittelstroms, automatische präzise Temperaturregelung

Produktparameter

Modell		MDSM-VP-CG-O-2	MDSM-VP-CG-O-4	MDSM-VP-CG-C-2
Futter	Größe	2Zoll	4 Zoll	2Zoll
	Probefestigungsverfahren	Vakuum-Wärmeleitfett/Federdruck
	Vakuumgrad	10^-10 torr maximales Vakuum
Optisch eigenschaften	Mikroskopverfahrweg	R-Achse 360 ° + Bewegungsachse 100 mm
	Gewinn	Zoom: 7:1, Auflösung 4 μm (Vergrößerung 216X) oder metallografisches Mikroskop (20X–1000X)
	Abmessungen von beobachtungsfenster	2Zoll	4 Zoll	2Zoll
Temperatur kONTROLLE tECHNISCHE DATEN	CCD-Pixel	50W (Simulation)/200 W (digital)/500 W (digital)
	Kühlmethode	Flüssigstickstoff/flüssiges Helium		Kühlkompressoren
	Steuerungsmethode	Manuelle/automatische Kältemittelstromregelung im Offenen Kreislauf		Geschlossene automatische Regelung
	Reichweite	77 K~473 K/4,2 K~473 K		7,3 K~473 K
	Auflösung	0,001 K
	Stabilität	4,2 K ±0,2 K bei 77 K±0,1 K bei 373 K±0,08 K bei 473 K±0,1 K
Sondenbeschreibung	Sondennummer	Die Anzahl der verschiedenen Sonden kann auf bis zu 6 erweitert werden
	Prüfregelung	Externe Einstellung des Vakuumbalgs, manuelle Steuerung
	Punktgenauigkeit	2μm
	Stromleckage	1pA/V @25 ℃，100fA/V @25℃
	Typ des Steckers	Triaxial/SMA/K/Glasfaser-Schnittstelle