Waferprober für Fehleranalyse , China Waferprober für Fehleranalyse Manufacturers, Suppliers, Factory

Produkteinführung

Der MDSM-FA-Serie-Prober ist eine Messanlage, die speziell für Laboratorien zur Fehleranalyse konzipiert wurde. Sie verfügt über optische und laserbasierte Eigenschaften, eine stabile Gerätestruktur, hervorragende Systemleistung, eine intuitive und bequeme Bedienung, unterstützt Mehrfachfunktions-Upgrades und bietet umfangreiche sowie vollständige Produktfunktionen.

Produktmerkmale

1. Unterstützt Probekarten zur Steigerung der Kontaktierungs-Effizienz;

2. Die Spannvorrichtung kann zum schnellen Trennen der Sonde von der Probe angehoben und abgesenkt werden;

3. Standard-Metallographisches Mikroskop, Pad-Test über 1 µm;

4. Luftgesteuerte Höhenverstellung des Mikroskops;

5. Anwendung von Mehrband-Lasern, schnelles Umschalten und präzises Schneiden.

Produktparameter

Modell		MDSM-FA-H	MDSM-FA-C
Futter	Mindestverschiebung	1μm	1μm
	Temperaturbereich	RT 300 ℃	-60℃~300℃
	Schnell herausziehen	N/A	Hub 290 mm
Mikroskop		Standard-Metallographisches Mikroskop PSM-1000, das bis auf 2000X vergrößert werden kann; Das Mikroskop kann per Druckluftsteuerung verstellt werden
Laser-Eigenschaften	Mikrozerspanungsfähigkeit	1064/532/355/266 nm-Bänder können ausgewählt werden
	leistung	Ausgangsleistung 2,2 mJ/Puls (aufrüstbar)
	band	Bearbeitbare Materialien: Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/Poly-Silizium/Mo/SiN/CF-Verunreinigungen usw.
	präzision	Die minimale Bearbeitungsgenauigkeit beträgt 1*1 μm (mit 100X-Objektiv)
	kühlmethode	Wahl zwischen luftgekühltem Laser oder wassergekühltem Laser
EMI-Abschirmung		N/A	√