MP-M Serie manueller Waferprober , China MP-M Serie manueller Waferprober Manufacturers, Suppliers, Factory

Produkteinführung:

Wenn Ihr Test-PAD größer als 30 µm ist, ist die MP-M-Serie eine Ihrer ersten Wahlmöglichkeiten im Labor.

Produktmerkmale:

1. Upgrade-fähiges modulares Design

2. Verschiedene Module können je nach Testanforderungen ausgewählt werden

3. Geschlossene mobile Plattform, staubgeschützt, langlebig und präzisere Positionierung

4. Po-Mater adaptive Isolationsbasis

5. Verwendung von aus Deutschland importierten Schwingungsdämpfungsmaterialien zur Verbesserung der Teststabilität

Produktparameter:

Manuelles Prüfgerät-Modell		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Futter	Chuck-Material	Edelstahl/vernickelt oder vergoldetes Kupfer
	Spannheber	N/A	Schnellhub 5 mm, Feinverstellung 6 mm
	Schnell bewegen	N/A	N/A	√
Mikroverstellplattform-Heber		N/A	N/A	Schnellhebung 5 mm, Feineinstellung 40 mm, Grobeinstellung 300 μm
Mikroskop		Standardmikroskop mit Körper (optionaler Video-Mikroskop-Spiegel), bis zu 100-fache Vergrößerung	Standard-PSM-1000-Metallographiemikroskop / optional (GX-6 Metallographie-, Stereomikroskop, Video) Mikroskop, bis zu 2000-fache Vergrößerung , und das Mikroskop kann per Luftsteuerung in der Höhe verstellt werden
Sonde spezifikation	Stromleckage	Koaxial 1 pA/V @ 25 °C; Dreiwellen 100fA/V @ 25 °C; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Prüfbedingungen: trockene Umgebung für Erdungsschirm (Taupunkt der Luft niedriger als -40 °C)
	Typ des Steckers	Banana-Stecker/Krokodilklemme/koaxiale/triachiale Schnittstelle
Testanwendung		DC/(IV, CV)-Prüfung Niedrigstromprüfung (Klasse 100fA) 1/f-Rauschtest Gerätecharakterisierungstest WLR-, Alterungsprüfung HF-Testfrequenz bis zu 110 GHz Hochleistungs-/Hochstrom-/Hochspannungsprüfung
		/	Ausfallanalyseprüfung	Ausfallanalyseprüfung