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Die Detektionslösung des Ellipsometers in der IC-Integrierten-Schaltkreis-Industrie
15 May 2025

Die Detektionslösung des Ellipsometers in der IC-Integrierten-Schaltkreis-Industrie

IC-Design, auch als integriertes Schaltungsentwurf bekannt, hat eine hohe Präzision in der Nanoprozesstechnologie, und je höher die Genauigkeit, desto fortschrittlicher ist der Produktionsprozess. Wenn mehr Transistoren in den Prozessor integriert werden, kann die Chip die Leistung... erhöhen.

Ultraschall-Scanning-Mikroskop-Lösung für die Halbleiterindustrie
27 Feb 2025

Ultraschall-Scanning-Mikroskop-Lösung für die Halbleiterindustrie

Bietet Flexibilität für Ihre Produktions- und Laborabteilungen. Bietet hochwertige FA-Lab-Funktionalität für Halbleiteranlagen. Kategorien: Elektrik & Elektronik, Prüftechnik, Test- & Messtechnikgeräte, OKOS, Ultraschall-Scanning-Mikroskop (SAM), Halbleiter.

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