การออกแบบ IC หรือที่เรียกว่าการออกแบบวงจรรวม มีความแม่นยำสูงในเทคโนโลยีกระบวนการนาโน และยิ่งมีความแม่นยำมากเท่าไหร่ ก็ยิ่งแสดงถึงกระบวนการผลิตที่ล้ำหน้ามากขึ้นเท่านั้น เมื่อมีการผสานทรานซิสเตอร์เข้ากับโปรเซสเซอร์มากขึ้น ชิปสามารถทำให้เกิด...
มอบความยืดหยุ่นให้กับแผนกผลิตและห้องปฏิบัติการของคุณ ให้ฟังก์ชัน FA Lab คุณภาพสูงสำหรับสถานที่ผลิตเซมิคอนดักเตอร์ หมวดหมู่: อิเล็กทรอนิกส์, การตรวจสอบ, อุปกรณ์ทดสอบและการวัด, OKOS, กล้องจุลทรรศน์สแกนแบบอัลตราซาวด์ (SAM), เซมิคอนดักเตอร์
Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.
Copyright © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. All Rights Reserved
EN
AR
BG
CS
DA
NL
FI
FR
DE
EL
IT
KO
NO
PL
PT
RO
RU
ES
SV
TL
IW
ID
LT
SR
SL
UK
VI
ET
HU
TH
TR
FA
AF
MS
GA
IS
HY
AZ
KA
