Modelo: MDST-3300
Sistema de Ashing de Wafers
Equipamento em lote para remoção de fotoresistência por RF em wafers
A aparência do equipamento está sujeita a atualizações e ajustes contínuos; o produto efetivamente enviado prevalece.
O MDST-3300 é um sistema de cinzalização por micro-ondas baseado em cassete de wafers, projetado para processamento em lote, destinado a aplicações como remoção de fotoresistência, descumming, limpeza de wafers, remoção de resíduos pós-processo úmido, limpeza de resíduos na superfície de wafers e remoção de resíduos pós-desenvolvimento. Elétrons livres em movimento geram plasma que atua sobre a fotoresistência nas superfícies dos wafers mantidos dentro do cassete de quartzo no interior da câmara. Um plasma contínuo e de alta densidade é gerado pela aplicação de energia de micro-ondas de 13,56 MHz às paredes da câmara de vácuo. A câmara acomoda cassetes de quartzo para wafers de 4 a 8 polegadas.
O MDST-2300 oferece limpeza por plasma rápida e isenta de danos. O sistema alcança esse efeito de limpeza por meio de reações químicas entre radicais ativados e a fotoresistência na superfície do wafer.



Princípio de funcionamento:
Um campo elétrico é aplicado ao gás de processo para ionizá-lo em plasma. Os componentes "ativos" do plasma incluem íons, elétrons, átomos, radicais livres, espécies em estado excitado (estados metastáveis) e fótons. O tratamento por plasma aproveita as propriedades desses componentes ativos para induzir reações físicas e químicas — tais como oxidação, redução, clivagem de ligações, reticulação e polimerização — alterando, assim, as características da superfície da amostra. Esse processo otimiza o desempenho superficial e alcança objetivos como limpeza, modificação superficial e remoção de resíduos.


Vantagens:
1. Fixações flexíveis para produtos acomodam wafers de formato irregular;
2. Plasma de baixa temperatura evita danos térmicos aos wafers;
3. Plasma eletricamente neutro evita danos elétricos aos wafers;
4. Saída de plasma de alta eficiência e uniforme garante remoção eficaz de fotoresist;
5. Alto grau de ionização e dissociação do plasma;
6. Processo de gravação a seco elimina fontes de contaminação;
7. Pressão e temperatura controladas por meio de válvula borboleta;
8. Capaz de manter o plasma em altas pressões de gás;
9. Fonte de alimentação de alta tensão separada do gerador de íons;
10. Compatível com configurações de acoplamento por micro-ondas e circuitos magnéticos.



Estrutura do produto:
O sistema de tratamento de superfície por plasma inclui principalmente três partes: câmara de vácuo e sistema de vácuo, gerador de radiofrequência e sistema de controle.
(A) Câmara de vácuo e sistema de geração de vácuo:
A câmara de vácuo está fixada no interior do quadro do gabinete, com portas destacáveis em ambos os lados, tornando extremamente conveniente a manutenção da câmara de vácuo interna e do sistema de vácuo. O sistema de geração de vácuo consiste principalmente em tubos corrugados, juntas KF e bombas de vácuo, tendo como componente central a bomba de vácuo (grupo de bombas de vácuo).
(B) Gerador de RF:
O gerador de RF está equipado com uma fonte de alimentação de 1000 W para gerar radiofrequência, e a energia de micro-ondas é injetada na câmara de quartzo de plasma por meio de um dispositivo de sintonia para formar o plasma.
(C) Sistema de controle:
Este sistema utiliza telas de exibição industriais, sistemas de controlo industrial de PC e design de interface chinês. Controle do processo do equipamento: bomba de vácuo inicia -> abre a válvula de defleção -> é atingido o grau de vácuo definido -> é introduzido gás de processo -> fonte RF gera RF -> energia RF é alimentada na câmara -> plasma é formado na câmara -> tempo de trabalho até que o vácuo seja O equipamento está disponível em dois modos: automático e manual.



Especificações do produto:
Unidade principal de plasma a vácuo | ||
Dimensões do equipamento |
Comprimento 1000 mm × Profundidade 850 mm × Altura 1700 mm |
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Requisitos de Energia |
AC 380 V, 50/60 Hz, 5 fios, 40 A |
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Especificações do Gerador de Plasma | ||
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Fonte de Alimentação RF
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Potência |
0~1000W |
Freqüência |
13,56 MHz |
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Rede correspondente |
Potência |
0~1000W |
Freqüência |
13,56 MHz |
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Sistema de vácuo | ||
Bomba Seca |
Bomba Seca |
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Tubos de vácuo |
Balões de vácuo de carga pesada |
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Material |
Quartzo |
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Dimensões internas da câmara |
354 mm × 508 mm (diâmetro × profundidade) |
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Nível de vácuo |
120 mTorr @ 2 min |
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Número de wafers processados |
25 peças (8 polegadas) / 50 peças (4 polegadas, 6 polegadas) |
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Taxa de vazamento da câmara |
≤10 mTorr |
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Vácuo base |
≤50 mTorr em 3 minutos |
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Gás de processo | ||
Faixa de fluxo |
O₂: 1000 sccm; Ar: 1000 sccm |
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Linha de gás de processo |
(O₂, Ar) + 1 linha reservada |
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Sistema de Controle | ||
Controlo do sistema |
PC |
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Método de entrega |
Tela de toque industrial |
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Remoção de Fotorresistente |
Observação |
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Taxa de desengomagem |
≧200 A/min |
Depende das amostras específicas do cliente e das condições de processamento. |
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WIW |
ESPEC ≦20% |
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WTW |
ESPEC ≦20% |
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Lote para lote |
ESPEC ≦20% |
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