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  • Probador de obleas de alta y baja temperatura
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Probador de obleas de alta y baja temperatura

Introducción del producto

El probador de la serie HLTP-C cuenta con un excelente sistema mecánico, rendimiento estructural estable, operación intuitiva y sencilla, soporte para actualización multifunción, y funciones amplias y completas. Este producto se utiliza principalmente en circuitos integrados, LED, LCD, celdas solares, fabricación y investigación en la industria semiconductor.

Características del producto

1. Plataforma móvil de pinza accionada por aire innovadora;

2. Plataforma de microposicionamiento elevable;

3. Tecnología avanzada de imagen 3x, que mejora significativamente la eficiencia de prueba;

4. Diseño de estructura de cavidad blindada.

Parámetros del Producto

Modelo

HLTP-C6

HLTP-C8

HLTP-C12

Arrojar

Tamaño

6 pulgadas

8 pulgadas

12 pulgadas

205*205 mm

205*205 mm

305*305mm

Viajes

210MM

210MM

290MM

Desplazamiento mínimo

1μm

Protección contra EMI

Sistema óptico de múltiples aumentos

microscopio de zoom de tres velocidades 15:1, puede mostrar 3 archivos simultáneamente

Temperatura

control

características

Autonomía

-60℃~300℃

Resolución

0.01

Tasa mínima de control de temperatura

±0,1 °C/h

Método de Enfriamiento

Nitrógeno líquido/aire

Consulta

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