Wissenschaftliche Forschung Halbleiter Optisches Spektrum Spektroskopischer Ellipsometer , China Wissenschaftliche Forschung Halbleiter Optisches Spektrum Spektroskopischer Ellipsometer Manufacturers, Suppliers, Factory

Produktbeschreibung

Spektroskopischer Ellipsometer

Der Spektralellipsometer kann schnell und automatisch an mehreren Punkten testen und die Stichprobe-Uniformität mit einem Klick testen. Das Produkt ist sowohl mit Polarisator, Analyser und Kompensator ausgestattet, die mit absolut codierenden Hochpräzisions-Positionssperreinheiten mit Bandlücken-Kompensationsfunktion versehen sind, was die Systemgenauigkeit und -stabilität erhöht. Durch eine Doppelfaser-Architektur wird die Lichtsammlungseffizienz verbessert, sodass ausreichende Spektren von geschliffenen Säurepolierflächen oder konventionellen Pyramidenfronten für Tests und Analysen gesammelt werden können. Es verfügt außerdem über grundlegende Funktionen wie Autofokus, Lichtintensitätsauswahl und Phasenkompensation.
Entworfen für eine hochpräzise und effiziente Analyse der optischen Eigenschaften von Materialien. Es kann automatisch, schnell und
genaue Messung des Brechungsindexes, des Extinktionskoeffizienten und der Filmdicke von Materialien. Es ist für die Charakterisierung von dünnen Schichten und Materialien in der wissenschaftlichen Forschung, Halbleitern, Photovoltaik, optischen Beschichtungen, Anzeigepanels und anderen Bereichen geeignet.

Messobjekt:

Optische Beschichtung: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205, Ti02, Ta205, A2O3, MgF2, Pi.
Anzeige: OLED (AIG3, PCBM, NPB, NPD...), Elektroden (ITO, PEDOT, MgO, Ag, Al, Mg...) ...
Photovoltaik: Si, Poly-Si, SiNx, CdS, CIGS, CdTe, PFN-Br, ABX3, PEDOT:PSS, PTB7-Th:PC71BM.
Halbleiter: Photoresist, ZnO, SiON, SiC, SiGe, GaN, AIN, InP, GaAs, AlxGa(1-x)N
Andere: OCD, 2-D Materialien, Van-der-Waals-Heterojunction und Geräte...

Produktfunktion:

Brechungsindexmessung: Brechungsindex von Materialien bei unterschiedlichen Wellenlängen genau messen, um Schlüsseldaten für optisches Design und Materialforschung bereitzustellen.
Absorptionskoeffizientenmessung: Lichtabsorptionscharakteristiken von Materialien analysieren, um die Leistung von Optoelektronikgeräten zu optimieren.
Filmdicke-Messung: Unterstützung der Dickenmessung von Nanometer- bis Mikron-Level-Filmen mit hoher Auflösung und guter Wiederholbarkeit.
Schnelle automatische Tests: Mit der Mehrpunkt-Automatik-Scann-Funktion erreicht die Messgeschwindigkeit 1 Sekunde/Punkt, was die Effizienz des Serientests erheblich steigert.

Messprinzip:

Das Prinzip der Ellipsometrie-Messung basiert auf der Änderung des Polarisationszustands von optischen Reflexionen vor und nach der Oberfläche des Mediums, um optische Eigenschaften und Strukturinformationen zu erhalten.

Das elektrische Feld des einfallenden Strahls wird in zwei senkrechte Richtungen zerlegt, wobei das p-Licht parallel zur Vibration des Lichts ist.
welle, s Licht ist senkrecht zur Vibration der Lichtwelle. Die Amplituden und Phasen von p- und s-Licht ändern sich, wenn der Strahl von der Oberfläche des Mediums reflektiert wird.

Die Korrelation zwischen den physikalischen Eigenschaften des Mediums und der Änderung des Polarisationszustands.

Arbeitsumgebung des Instruments:

Spannung: 220VAC+10%
Raumtemperatur: Umgebungstemperatur (10-30)°C
Relative Luftfeuchtigkeit: (20-80)% RH

Spektrometer:

Detektionseinheit: 2048-Pixel schneller CCD-Detektor mit Rückenseitenbeleuchtung
Detaillierte Parameter:
1. Spektralbereich besser als 350nm-1000nm
2. Streulicht<0,02%@400nm
3. Signal-Rausch-Verhältnis 4800
4. dynamischer Bereich 50000:1
5. holografischer Lichtweg
6. digitale Auflösung 16-Bit
7. Lesegeschwindigkeit >400kHz
8. Datentransfergeschwindigkeit 600MB/s
9. Minimale Integrationszeit/Einstellschritt 6 us/1us
10. Externer Trigger-Verzögerung 95ns+/–20ns
11. Computer-Schnittstelle USB4.1C/2.0
12. Betriebssystem Win 7/in 8/Win 10
durchschnittliche QE im UV-Bereich, Rückseiten-CCD, durchschnittliches QE ≥75% Abkühlsystem Mikro-TE-Abkühlung, Temperatur nach dem Kühlvorgang beträgt 30°C
unter der Umgebungstemperatur.
Integrationsmethode softwaregesteuerte automatische Einstellung der Integrationszeit, kann das Beste erreichen

Lichtquellsystem:

Lichtquelle Halogenlampe mit Quarzröhre, Wellenlängenbereich 350nm-2000nm, keine Abnutzung, Lebensdauer länger als 50000 Stunden.
Unabhängige Stromversorgung für Halogenlampe, Spannung 4,9Vd

Bühne mit Autofokus-Funktion:

Verschiebe Probe in die beste Messposition mit Autofokus-Funktion. Hub: 100mm
Genauigkeit: 0,0005mm. Ortsbegrenzung mit positiver und negativer Begrenzung und Nullpositionsensor; Anfangsposition, Endposition und Schrittweite der Autofokus-Funktion können in der Software unter Verwendung der Gauß-Regression-Methode festgelegt werden; legen Sie eine bestimmte Integrationszeit fest und messen Sie die Intensität der Fokusmethode.

Produktstruktur

Spezifikation

Optisches System:

Einfallswinkel	65°
Strahlabweichung	< 0.3°
Messparameter	Psi&Del, TanPsi&CosDel, Alpha&Beta
Polarisatoren	Glan-Thompson
Material	a-BBO
Kompressor	viertelwellen-Phasenverschiebung, hyperachromatisch
Intensitätsauswahl	Lineare Optikdichte-Auswahlelement. Gewährleistet ein gutes Signal-Rausch-Verhältnis im Messprozess, verbessert die Datengenauigkeit. vermeidet, dass die Lichtintensität zu stark wird oder zu schwach ist, um das Signal-Rausch-Verhältnis und die Genauigkeit zu reduzieren
Optische Konstruktion	doppelter Faserleitung, der das Licht von der Lampe über Polarisationselemente zum Spektrometer leitet; stabiler Lichtweg, bequem zur Austausch der Lampen
Faser	uV-Abschirmung; NA=0.22; offenes Durchmesser 600um
Mikro-Lichtfleck	durchmesser ≤200um, um den nützlichen vom Vordergrund reflektierten Licht und dem unnützen vom Hintergrund reflektierten Licht zu unterscheiden unterseite, leicht zu zerlegen
Gespalten	1 50um, zur Unterscheidung zwischen dem nützlichen Licht, das von der Vorderseite reflektiert wird, und dem unnützen Licht, das von der Unterseite reflektiert wird oberfläche

Grundparameter-Auswahltabelle:

Spektralbereich	350-1000nm	C			Sichtbar
		210-1000nm	UC			UV-Visibel
		210-1700nm	Nicht			UV-Vis-NIR
Optischer Kompensator	Rc				Einziger Kompensator
Optischer Kompensator		Die in Absatz 1 genannten		C2		Doppelter Kompensator
Spektralbereich	X-Y			M	Große Hubweite bis 230mm
Spektralbereich		X-R			R	Großer Durchmesser bis 300mm

Verpackung & Lieferung

Unternehmensprofil

Minder-Hightech ist Vertreter für Verkauf und Service von Ausrüstung in der Halbleiter- und Elektronikproduktindustrie. Seit 2014 hat sich das Unternehmen darauf spezialisiert, Kunden überlegene, zuverlässige und integrierte Lösungen für Maschinen auszurichten.

FAQ

1. Preisinformationen:
Alle unsere Preise sind wettbewerbsfähig und verhandelbar. Der Preis variiert je nach Konfiguration und Komplexität der Anpassung Ihres Geräts.

2. Über Stichprobe:
Wir können Ihnen Stichprobenproduktionsdienstleistungen anbieten, Sie müssen jedoch einige Gebühren übernehmen.

3. Über Zahlung:
Nach Bestätigung des Plans müssen Sie uns zunächst einen Vorschuss zahlen, und die Fabrik wird beginnen, die Waren vorzubereiten. Wenn das Gerät fertig ist und Sie den Restbetrag bezahlt haben, werden wir es verschicken.

4. Über Lieferung:
Nachdem die Fertigung des Geräts abgeschlossen ist, werden wir Ihnen das Akzeptanzvideo senden und Sie können auch vor Ort kommen, um das Gerät zu inspizieren.

5. Installation und Feinabstimmung:
Wenn das Gerät in Ihrer Fabrik eintrifft, können wir Ingenieure entsenden, um das Gerät zu installieren und einzustellen. Dafür werden wir Ihnen eine separate Kostenvorabschätzung bereitstellen.

6. Über die Garantie:
Unsere Geräte haben eine Garantie von 12 Monaten. Nach Ablauf der Garantieperiode werden wir bei Schäden an Ersatzteilen nur den Kostenpreis verlangen, falls diese ersetzt werden müssen.

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