Ультразвуковой сканирующий микроскоп серии MDHWS641 — это оборудование для неразрушающего контроля с визуализацией, использующее ультразвук в качестве физического носителя. Основная задача — обнаружение дефектов в различных полупроводниковых приборах и материалах с помощью высокочастотного ультразвука; система способна выявлять такие внутренние дефекты образца, как поры, трещины, неметаллические включения и расслоения, и отображать их графически.
В процессе сканирования образец не повреждается, его эксплуатационные характеристики не изменяются, что позволяет эффективно удовлетворять потребности таких отраслей, как новые источники энергии, силовая электроника, материалы для теплового управления, алмазные композитные материалы, углеродные волоконные композитные материалы и другие.