Ультразвуковой сканирующий микроскоп MDHWS114 — это оборудование для неразрушающего контроля с визуализацией, использующее ультразвук в качестве физического носителя. Основное применение — обнаружение дефектов в различных полупроводниковых приборах и материалах с помощью высокочастотного ультразвука; при этом выявляются такие дефекты, как поры, трещины, неметаллические включения и расслоения внутри образца, а результаты отображаются в графическом виде.
В процессе сканирования образец не повреждается, его эксплуатационные характеристики не изменяются, что позволяет эффективно удовлетворять потребности таких отраслей, как новые источники энергии, полупроводниковая промышленность, силовая электроника, материалы для теплового управления, алмазные композитные материалы, углеволоконные композитные материалы и другие.