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  • Probador manual de obleas serie MP-E
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Probador manual de obleas serie MP-E

Introducción del producto

La estación de prueba serie MP-H es adecuada para laboratorios de I+D, permitiéndoles invertir su presupuesto una sola vez. La tecnología de movimiento del portamuestras puede satisfacer sus necesidades de prueba eficiente de toda la oblea.

Características del producto

1. Etapa microposicionadora elevable de tres etapas para posicionamiento preciso y separación rápida de las puntas de prueba;

2. Microscopio metalográfico estándar, prueba de pad superior a 1 μm;

3. Puede equiparse con láser para pruebas FA/corte láser;

4. Tecnología de movimiento del portamuestra controlado neumáticamente para extraer rápidamente el portamuestra.

Parámetros del Producto

Modelo de probador manual

MP-M4/MP-M6/MP-M6mini

MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12

MP-H6/MP-H8/MP-H12

Arrojar

Material del portabrocas

Acero inoxidable/cobre chapado en níquel o oro

Elevación del portabrocas

N/A

Ascenso rápido 5 mm, ajuste fino 6 mm

Mover rápidamente

N/A

N/A

Elevación de la plataforma micrométrica

N/A

N/A

Elevación rápida 5 mm, ajuste fino 40 mm, ajuste grueso 300 mm μm

Microscopio

Microscopio estándar de cuerpo (espejo de microscopio de video opcional), puede ampliarse hasta 100X

Microscopio metalográfico estándar PSM-1000 / opcional (microscopio GX-6 metalográfico, estéreo, de video), puede ampliarse hasta 2000X , y el microscopio puede ajustarse arriba y abajo mediante control de aire

Sonda

especificación

Fuga de corriente

Coaxial 1pA/V @ 25 °C; Tres ejes 100fA/V @ 25 °C; Triaxial 10pA@3kV @25°C,

Condiciones de prueba: ambiente seco para blindaje de tierra (punto de rocío del aire inferior a -40 °C)

Tipo de conector

Cabeza banana/Clip cocodrilo/Interfaz coaxial/triaxial

Aplicación de prueba

Prueba DC/(IV, CV)

Prueba de baja corriente (clase 100fA)

prueba de ruido 1/f

Prueba de caracterización de dispositivos

WLR, prueba de envejecimiento

Frecuencia de prueba RF hasta 110 GHz

Prueba de alta potencia/alta corriente/alto voltaje

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Prueba de análisis de fallas

Prueba de análisis de fallas

Consulta

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