Introducción del producto
La estación de prueba serie MP-H es adecuada para laboratorios de I+D, permitiéndoles invertir su presupuesto una sola vez. La tecnología de movimiento del portamuestras puede satisfacer sus necesidades de prueba eficiente de toda la oblea.
Características del producto
1. Etapa microposicionadora elevable de tres etapas para posicionamiento preciso y separación rápida de las puntas de prueba;
2. Microscopio metalográfico estándar, prueba de pad superior a 1 μm;
3. Puede equiparse con láser para pruebas FA/corte láser;
4. Tecnología de movimiento del portamuestra controlado neumáticamente para extraer rápidamente el portamuestra.
Parámetros del Producto
Modelo de probador manual |
MP-M4/MP-M6/MP-M6mini |
MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12 |
MP-H6/MP-H8/MP-H12 |
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Arrojar |
Material del portabrocas |
Acero inoxidable/cobre chapado en níquel o oro |
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Elevación del portabrocas |
N/A |
Ascenso rápido 5 mm, ajuste fino 6 mm |
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Mover rápidamente |
N/A |
N/A |
√ |
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Elevación de la plataforma micrométrica |
N/A |
N/A |
Elevación rápida 5 mm, ajuste fino 40 mm, ajuste grueso 300 mm μm |
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Microscopio |
Microscopio estándar de cuerpo (espejo de microscopio de video opcional), puede ampliarse hasta 100X |
Microscopio metalográfico estándar PSM-1000 / opcional (microscopio GX-6 metalográfico, estéreo, de video), puede ampliarse hasta 2000X , y el microscopio puede ajustarse arriba y abajo mediante control de aire |
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Sonda especificación |
Fuga de corriente |
Coaxial 1pA/V @ 25 °C; Tres ejes 100fA/V @ 25 °C; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Condiciones de prueba: ambiente seco para blindaje de tierra (punto de rocío del aire inferior a -40 °C) |
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Tipo de conector |
Cabeza banana/Clip cocodrilo/Interfaz coaxial/triaxial |
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Aplicación de prueba |
Prueba DC/(IV, CV) Prueba de baja corriente (clase 100fA) prueba de ruido 1/f Prueba de caracterización de dispositivos WLR, prueba de envejecimiento Frecuencia de prueba RF hasta 110 GHz Prueba de alta potencia/alta corriente/alto voltaje |
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Prueba de análisis de fallas |
Prueba de análisis de fallas |
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