Introducción del producto:
La serie MP-E es una estación de prueba funcionalmente avanzada, que puede examinar el tamaño del electrodo/pad de más de 1 μm y puede actualizarse con funciones de prueba a un costo menor.
Características del Producto:
1. La platina puede elevarse y bajarse para separar rápidamente la sonda de la muestra;
2. Microscopio metalográfico estándar, prueba de pad superior a 1 μm;
3. Puede equiparse con láser para pruebas FA/corte láser;
4. Elevación rápida neumática del microscopio, fácil cambio del porta-microscopio y del porta-tarjeta de sonda;
5. Base adaptativa de aislamiento POMater;
6. Incorpora materiales absorbentes de vibraciones importados de Alemania para mejorar la estabilidad durante la prueba.
Parámetros del producto:
Modelo de probador manual |
MP-M4/MP-M6/MP-M6mini |
MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12 |
MP-H6/MP-H8/MP-H12 |
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Arrojar |
Material del portabrocas |
Acero inoxidable/cobre chapado en níquel o oro |
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Elevación del portabrocas |
N/A |
Ascenso rápido 5 mm, ajuste fino 6 mm |
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Mover rápidamente |
N/A |
N/A |
√ |
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Elevación de la plataforma micrométrica |
N/A |
N/A |
Elevación rápida 5 mm, ajuste fino 40 mm, ajuste grueso 300 mm μm |
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Microscopio |
Microscopio estándar de cuerpo (espejo de microscopio de video opcional), puede ampliarse hasta 100X |
Microscopio metalográfico estándar PSM-1000 / opcional (microscopio GX-6 metalográfico, estéreo, de video), puede ampliarse hasta 2000X , y el microscopio puede ajustarse arriba y abajo mediante control de aire |
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Sonda especificación |
Fuga de corriente |
Coaxial 1pA/V @ 25 °C; Tres ejes 100fA/V @ 25 °C; Triaxial 10pA@3kV @25°C, Condiciones de prueba: ambiente seco para blindaje de tierra (punto de rocío del aire inferior a -40 °C) |
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Tipo de conector |
Cabeza banana/Clip cocodrilo/Interfaz coaxial/triaxial |
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Aplicación de prueba |
Prueba DC/(IV, CV) Prueba de baja corriente (clase 100fA) prueba de ruido 1/f Prueba de caracterización de dispositivos WLR, prueba de envejecimiento Frecuencia de prueba RF hasta 110 GHz Prueba de alta potencia/alta corriente/alto voltaje |
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Prueba de análisis de fallas |
Prueba de análisis de fallas |
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Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.
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