Ультразвуковий скануючий мікроскоп MDHWS114 — це обладнання для неруйнівного контролю з візуалізацією, що використовує ультразвук як робоче середовище. Він переважно застосовує ультразвук високої частоти для дослідження різноманітних напівпровідникових приладів та матеріалів і може виявляти дефекти всередині зразка, такі як пори, тріщини, включення та розшарування, а також відображати їх графічно.
Під час процесу сканування зразок не пошкоджується, його експлуатаційні характеристики не змінюються, а отже, цей метод ефективно задовольняє потреби таких галузей, як нові енергетичні технології, напівпровідникова промисловість, потужна електроніка, матеріали для теплового управління, алмазні композитні матеріали, вуглецеві волокнисті композитні матеріали тощо.