MP-M Series Wafer Manual Prober , China MP-M Series Wafer Manual Prober Manufacturers, Suppliers, Factory

การนําเสนอสินค้า:

หากแผ่นทดสอบ PAD ของคุณมีขนาดใหญ่กว่า 30µm ซีรีส์ MP-M ถือเป็นหนึ่งในตัวเลือกแรกๆ ที่ควรพิจารณาในห้องปฏิบัติการ

ลักษณะสินค้า:

1. การออกแบบแบบโมดูลาร์ที่สามารถอัปเกรดได้

2. สามารถเลือกโมดูลต่าง ๆ ได้ตามความต้องการของการทดสอบ

3. แพลตฟอร์มมือถือแบบปิด กันฝุ่น ทนทาน และตำแหน่งที่แม่นยำยิ่งขึ้น

4. ฐานแยกสัญญาณแบบปรับตัวได้ Po Mater

5. ใช้วัสดุดูดซับแรงสะเทือนที่นำเข้าจากเยอรมนี เพื่อเพิ่มความเสถียรในการทดสอบ

พารามิเตอร์ผลิตภัณฑ์:

รุ่นเครื่องตรวจสอบแบบแมนนวล		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
ชัค	วัสดุชัค	สแตนเลสสตีล/ทองแดงชุบด้วยนิกเกิลหรือทอง
	การยกชัค	ไม่มีข้อมูล	ยกเร็ว 5 มม. ปรับละเอียด 6 มม.
	เคลื่อนที่อย่างรวดเร็ว	ไม่มีข้อมูล	ไม่มีข้อมูล	√
แพลตฟอร์มยกไมโครโพซิชันเนอร์		ไม่มีข้อมูล	ไม่มีข้อมูล	ยกเร็ว 5 มม., ปรับละเอียด 40 มม., ปรับหยาบ 300 มม. μm
กล้องจุลทรรศน์		กล้องจุลทรรศน์ตัวเรือนมาตรฐาน (กระจกกล้องจุลทรรศน์สำหรับวิดีโอเป็นอุปกรณ์เสริม), สามารถขยายได้สูงสุดถึง 100 เท่า	กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา PSM-1000 มาตรฐาน / เป็นอุปกรณ์เสริม (กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา GX-6, แบบสเตอริโอ, แบบวิดีโอ), สามารถขยายได้สูงสุดถึง 2000 เท่า และกล้องจุลทรรศน์สามารถปรับขึ้นลงได้ด้วยระบบควบคุมด้วยอากาศ
ตรวจสอบ ข้อมูลจำเพาะ	การรั่วของกระแสไฟฟ้า	แกนเดียว 1 พิโกแอมแปร์/โวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส; สามแกน 100 เฟมโตแอมแปร์/โวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส; แบบไตรแอ็กเชียล 10 พิโกแอมแปร์ ที่ 3 กิโลโวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส เงื่อนไขการทดสอบ: สภาพแวดล้อมแห้งสำหรับการป้องกันการต่อพื้นดิน (จุดน้ำค้างในอากาศต่ำกว่า -40 °C)
	ประเภทของตัวเชื่อมต่อ	อินเตอร์เฟซแบบหัวกล้วย/คลิปจระเข้/โคแอ็กเชียล/ไตรแอกเชียล
การประยุกต์ใช้งานการทดสอบ		การทดสอบกระแสตรง (IV, CV) การทดสอบกระแสต่ำ (ระดับ 100fA) การทดสอบสัญญาณรบกวนแบบ 1/f การทดสอบการจำแนกลักษณะอุปกรณ์ การทดสอบ WLR และการทดสอบความเสื่อมสภาพ ความถี่การทดสอบ RF สูงสุด 110 กิกะเฮิรตซ์ การทดสอบกำลังไฟฟ้าสูง/กระแสไฟฟ้าสูง/แรงดันไฟฟ้าสูง
		/	การทดสอบวิเคราะห์ความล้มเหลว	การทดสอบวิเคราะห์ความล้มเหลว