MP-E Series Manual Wafer Prober , China MP-E Series Manual Wafer Prober Manufacturers, Suppliers, Factory

ข้อมูลผลิตภัณฑ์

สถานีตรวจสอบรุ่นซีรีส์ MP-H เหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการด้านการวิจัยและพัฒนา ช่วยให้สามารถลงทุนงบประมาณเพียงครั้งเดียว เทคโนโลยีการเคลื่อนที่ของชัคสามารถตอบสนองความต้องการในการทดสอบเวเฟอร์ทั้งแผ่นอย่างมีประสิทธิภาพ

คุณสมบัติของผลิตภัณฑ์

1. แท่นไมโครโพซิชันเนอร์แบบยกได้สามขั้นตอน สำหรับการจัดตำแหน่งอย่างแม่นยำและการแยกหัวตรวจอย่างรวดเร็ว

2. กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบมาตรฐาน ใช้ทดสอบแพดขนาดใหญ่กว่า 1 ไมครอน;

3. สามารถติดตั้งเลเซอร์สำหรับการทดสอบ FA/การตัดด้วยเลเซอร์ได้;

4.เทคโนโลยีการควบคุมการเคลื่อนที่ของจั๊กโดยใช้อากาศอัด เพื่อดึงจั๊กออกอย่างรวดเร็ว

ข้อมูลจำเพาะของผลิตภัณฑ์

รุ่นเครื่องตรวจสอบแบบแมนนวล		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
ชัค	วัสดุชัค	สแตนเลสสตีล/ทองแดงชุบด้วยนิกเกิลหรือทอง
	การยกชัค	ไม่มีข้อมูล	ยกเร็ว 5 มม. ปรับละเอียด 6 มม.
	เคลื่อนที่อย่างรวดเร็ว	ไม่มีข้อมูล	ไม่มีข้อมูล	√
แพลตฟอร์มยกไมโครโพซิชันเนอร์		ไม่มีข้อมูล	ไม่มีข้อมูล	ยกเร็ว 5 มม., ปรับละเอียด 40 มม., ปรับหยาบ 300 มม. μm
กล้องจุลทรรศน์		กล้องจุลทรรศน์ตัวเรือนมาตรฐาน (กระจกกล้องจุลทรรศน์สำหรับวิดีโอเป็นอุปกรณ์เสริม), สามารถขยายได้สูงสุดถึง 100 เท่า	กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา PSM-1000 มาตรฐาน / เป็นอุปกรณ์เสริม (กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา GX-6, แบบสเตอริโอ, แบบวิดีโอ), สามารถขยายได้สูงสุดถึง 2000 เท่า และกล้องจุลทรรศน์สามารถปรับขึ้นลงได้ด้วยระบบควบคุมด้วยอากาศ
ตรวจสอบ ข้อมูลจำเพาะ	การรั่วของกระแสไฟฟ้า	แกนเดียว 1 พิโกแอมแปร์/โวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส; สามแกน 100 เฟมโตแอมแปร์/โวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส; แบบไตรแอ็กเชียล 10 พิโกแอมแปร์ ที่ 3 กิโลโวลต์ ที่ 25 องศาเซลเซียส เงื่อนไขการทดสอบ: สภาพแวดล้อมแห้งสำหรับการป้องกันการต่อพื้นดิน (จุดน้ำค้างในอากาศต่ำกว่า -40 °C)
	ประเภทของตัวเชื่อมต่อ	อินเตอร์เฟซแบบหัวกล้วย/คลิปจระเข้/โคแอ็กเชียล/ไตรแอกเชียล
การประยุกต์ใช้งานการทดสอบ		การทดสอบกระแสตรง (IV, CV) การทดสอบกระแสต่ำ (ระดับ 100fA) การทดสอบสัญญาณรบกวนแบบ 1/f การทดสอบการจำแนกลักษณะอุปกรณ์ การทดสอบ WLR และการทดสอบความเสื่อมสภาพ ความถี่การทดสอบ RF สูงสุด 110 กิกะเฮิรตซ์ การทดสอบกำลังไฟฟ้าสูง/กระแสไฟฟ้าสูง/แรงดันไฟฟ้าสูง
		/	การทดสอบวิเคราะห์ความล้มเหลว	การทดสอบวิเคราะห์ความล้มเหลว