Serie MP-E Prober Manuale per Wafer , China Serie MP-E Prober Manuale per Wafer Manufacturers, Suppliers, Factory

Introduzione al prodotto

La serie MP-H di stazioni di probing è adatta ai laboratori di ricerca e sviluppo, consentendo loro di investire il proprio budget una volta sola. La tecnologia di movimentazione del mandrino può soddisfare le esigenze di test efficiente dell'intero wafer.

Caratteristiche del prodotto

1. Mandrino micrometrico sollevabile a tre stadi per un posizionamento preciso e una rapida separazione delle sonde;

2. Microscopio metallografico standard, test Pad superiore a 1 μm;

3. Può essere equipaggiato con un laser per test FA/taglio al laser;

4. Tecnologia di movimento del mandrino controllata pneumaticamente per estrarre rapidamente il mandrino.

Parametri del Prodotto

Modello di prober manuale		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Chuck, non preoccuparti.	Materiale del mandrino	Acciaio inossidabile/Rame placcato nichel o oro
	Sollevamento del mandrino	N/D	Salita rapida 5 mm, regolazione fine 6 mm
	Muovi rapidamente	N/D	N/D	√
Piattaforma di microposizionamento con sollevamento		N/D	N/D	Sollevamento rapido 5 mm, regolazione fine 40 mm, regolazione grossolana 300 μm
Microscopio		Microscopio standard con corpo (specchio per microscopio video opzionale), può essere ingrandito fino a 100X	Microscopio metallografico standard PSM-1000 / opzionale (GX-6 metallografico, stereo, video), può essere ingrandito fino a 2000X , e il microscopio può essere regolato su e giù mediante controllo pneumatico
Sonda specifiche	Corrente di dispersione	Coassiale 1 pA/V @ 25 °C; Tre alberi 100fA/V @ 25 °C; Triassiale 10pA@3kV @25°C, Condizioni di prova: ambiente asciutto per schermatura di terra (punto di rugiada dell'aria inferiore a -40 °C)
	Tipo di connettore	Connettore banana/Morsetto coccodrillo/Interfaccia Coassiale/Triassiale
Applicazione del test		Prova in corrente continua (IV, CV) Prova di bassa corrente (classe 100fA) prova rumore 1/f Prova di caratterizzazione del dispositivo Prova WLR, invecchiamento Frequenza del test RF fino a 110 GHz Test ad alta potenza/alta corrente/alta tensione
		/	Test di analisi dei guasti	Test di analisi dei guasti