Serie MP-E Prober Manuale per Wafer , China Serie MP-E Prober Manuale per Wafer Manufacturers, Suppliers, Factory

Introduzione al prodotto:

La serie MP-E è una stazione di prova funzionalmente avanzata, in grado di esaminare dimensioni degli elettrodi/pad superiori a 1 μm e può essere aggiornata con funzioni di test a un costo inferiore.

Caratteristiche del prodotto:

1. Il chuck può essere alzato e abbassato per una rapida separazione della sonda dal campione;

2. Microscopio metallografico standard, test del pad superiore a 1 μm;

3. Può essere equipaggiato con un laser per test FA/taglio al laser;

4. Sollevamento pneumatico rapido del microscopio, facile da cambiare supporto per microscopio e scheda sonda;

5. Base di isolamento adattiva POMater;

6. Utilizzo di materiali anti-vibrazione importati dalla Germania per migliorare la stabilità del test.

Parametri del Prodotto:

Modello di prober manuale		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Chuck, non preoccuparti.	Materiale del mandrino	Acciaio inossidabile/Rame placcato nichel o oro
	Sollevamento del mandrino	N/D	Salita rapida 5 mm, regolazione fine 6 mm
	Muovi rapidamente	N/D	N/D	√
Piattaforma di microposizionamento con sollevamento		N/D	N/D	Sollevamento rapido 5 mm, regolazione fine 40 mm, regolazione grossolana 300 μm
Microscopio		Microscopio standard con corpo (specchio per microscopio video opzionale), può essere ingrandito fino a 100X	Microscopio metallografico standard PSM-1000 / opzionale (GX-6 metallografico, stereo, video), può essere ingrandito fino a 2000X , e il microscopio può essere regolato su e giù mediante controllo pneumatico
Sonda specifiche	Corrente di dispersione	Coassiale 1 pA/V @ 25 °C; Tre alberi 100fA/V @ 25 °C; Triassiale 10pA@3kV @25°C, Condizioni di prova: ambiente asciutto per schermatura di terra (punto di rugiada dell'aria inferiore a -40 °C)
	Tipo di connettore	Connettore banana/Morsetto coccodrillo/Interfaccia Coassiale/Triassiale
Applicazione del test		Prova in corrente continua (IV, CV) Prova di bassa corrente (classe 100fA) prova rumore 1/f Prova di caratterizzazione del dispositivo Prova WLR, invecchiamento Frequenza del test RF fino a 110 GHz Test ad alta potenza/alta corrente/alta tensione
		/	Test di analisi dei guasti	Test di analisi dei guasti