Transistor Outline (TO) è un tipo di contenitore per transistor progettato per consentire la formazione dei terminali e il montaggio su superficie.
Come dispositivo confezionato, l'ingresso di polvere o umidità in condizioni non sigillate può compromettere le prestazioni del prodotto, alterando direttamente il percorso ottico e causando infine malfunzionamenti. Pertanto, durante la produzione è essenziale effettuare un test di rilevamento delle perdite mediante spettrometria di massa dell'elio, che prevede il controllo della tenuta ermetica del dispositivo.
A causa delle dimensioni ridotte dei dispositivi laser confezionati e dell'impossibilità di evacuarli o riempirli direttamente con elio, il test di rilevazione delle perdite mediante spettrometria di massa dell'elio di tipo TO utilizza tipicamente il metodo a pressione retrostante, un metodo semplice e affidabile. Il dispositivo ottico confezionato TO viene collocato all'interno di un contenitore sottoposto a una determinata pressione, alla quale viene introdotto l'elio per compressione. Dopo aver mantenuto la pressione per un periodo specificato, il dispositivo viene estratto e trasferito in un contenitore sotto vuoto (serbatoio di prova per perdite) collegato a un rilevatore di elio per il collaudo. Un test automatico verifica se il dispositivo soddisfa i requisiti di tenuta ermetica del pacchetto.
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