Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.
EN
Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.
Få et tilbud

Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.

Forside
Om os
MH Udstyr
Løsning
Brugere Udenfor Landet
Video
Kontakt os
Hjem> Semicon Inspektion
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer
  • Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer

Videnskabelig forskning Halvledere Optisk spektrum Spektroskopisk Ellipsometer

Få et gratis tilbud
Produktbeskrivelse

Spektroskopisk Ellipsometer

Spektralt ellipsometer kan udføre hurtig og multipunkt automatisk test, og kan teste prøveens ensartethed med ét klik. Produktets polarisator, analyser og kompensator er alle udstyret med absolutte kodning højpræcise positionssperrende enheder med bandgap-kompensationsfunktion, hvilket forbedrer systemets nøjagtighed og stabilitet. Ved at bruge en dual fiber-arkitektur for at forbedre lysindsamlingseffektiviteten, kan der indsamles tilstrækkelige spektra fra skåret syrepolerede overflader eller konventionelle pyramideforstårne for test og analyse. Det har også grundlæggende funktioner såsom autofokus, lysintensitetsvalg og fasakompensation.
Designet til højpræcis og effektiv analyse af optiske egenskaber ved materialer. Det kan automatisk, hurtigt og
måle refraktionsindeks, extinctionskoefficient og filmtykkelse af materialer præcist. Det er egnet til behov for karakterisering af tynde filmbelag og materialer inden for videnskabelig forskning, halvledere, solceller, optiske belag, visningspaneler og andre områder.

Måleobjekt:

Optisk belægning: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205, Ti02, Ta205, A2O3, MgF2, Pi.
Visning: OLED(AIG3, PCBM, NPB, NPD...), elektroder(ITO, PEDOT, MgO, Ag, Al, Mg...) ...
Solceller: Si, Poly-Si, SiNx, CdS, CIGS, CdTe, PFN-Br, ABX3, PEDOT:PSS, PTB7-Th:PC71BM.
Halvleder: Photoresist, ZnO, SiON, SiC, SiGe, GaN, AIN, InP, GaAs, AlxGa(1-x)N
Andre: OCD, 2-D materialer, Van der Waals heterojunction og enhed...

Produktfunktion:

Bredningsindeksmåling: Mål nøjagtigt materialets bredningsindeks på forskellige bølgelængder, hvilket giver nøgletal til optisk design og materialeforskning.
Dempningskoefficientmåling: Analyser lysabsorptionsegenskaberne ved materialer for at optimere ydeevnen af optoelektroniske enheder.
Filmtykkelsemåling: Understøtter tykkelseafgørelse af nanometer til mikron-niveau film med høj oppløsning og god gentagelighed.
Hurtig automatisk test: Med funktionen for flerpunktsautomatisk scanning når målevægten 1 sekund/punkt, hvilket forbedrer effektiviteten af batchtesting betydeligt.

Måleprincip:

Ellipsometrimålets princip er baseret på ændringen af polariseringstilstanden af optisk spejling før og efter mediumoverfladen for at få viden om optiske egenskaber og strukturinformation.
Elektrisk felt i incidensstrålen dekomponeres i to lodrette retninger, hvor p-lys er parallellelt til lysvibningen
bølge, hvor lyset er vinkelret på vibrationen af lysbølgen. Amplituderne og faserne af p- og S-lys vil ændre sig, når strålen bliver spejlet fra overfladen af mediumet.
Korrelationen mellem fysiske egenskaber ved mediummet og ændringen i polariseringsstatus.

Instrumentets arbejdsmiljø:

Strøm: 220VAC+10%
Værelses temperatur: miljøtemperatur (10-30)℃
Relativ fugtighed: (20-80)%RH

Spectrometer:

Detekteringsenhed: 2048 pixel fast back-illuminated CCD-detektor
Detaljerede parametre:
1. spektrumområde bedre end 350nm-1000nm
2. stray lys<0,02%@400nm
3. signal-til-brus forhold 4800
4. dynamisk omfang 50000:1
5. holografisk lyssti
6. digital oppløsning 16-bit
7. læsehastighed >400kHz
8. datatransmissionshastighed 600MB/s
9. minimum integrations tid/justeringssteg 6 us/1us
10. ekstern trigger forsinkelse 95ns+/–20ns
11. computerinterface USB4.1C/2.0
12. operativsystem Win 7/in 8/Win 10
gennemsnitlig QE i UV-regionen, baglysnet CCD, gennemsnitlig QE ≥75% Kølesystem mikro TE køling, temperatur efter køling er 30'c
lavere end miljøtemperaturen.
Integrationsmetode softwarestyrede automatiske integrationsintervaller, kan opnå det bedste

Lyskilde system:

Lyskilde halogenlampe med kvartslomme, bølgelængdespan 350nm-2000nm, ingen nedbrydning levetid længere end 50000 timer.
Strømkilde uafhængig strømkilde til halogenlampe spænding 4.9vd

Stage med autofokus funktion:

Flyt prøve til den bedste måleposition med autofokus funktion Strækning: 100mm
Nøjagtighed: 0.0005mm Lokationsbegrænsning med både positiv og negativ begrænsning og nulpunktssensor; startposition, slutposition, trinlængde for autofokus funktion kan indstilles i softwaren ved hjælp af Gaussisk regressionsmetode; angiv specificeret integrations tid og indsamle intensitet af Fokus metode
Produktstruktur
Specifikation
Optisk system:
Indfaldsvinkel
65°
Stråleafvigelse
< 0.3°
Måleparametre
Psi&Del, TanPsi&CosDel, Alpha&Beta
Polariseringsplader
Glan-Thompson
Materiale
a-BBO
Kompensator
fjerdedels-bølge faseforsinkelse, hyper akromatisk
Intensitetsudvælgelse
Lineær optisk tæthedsvælger. Sikrer god signal-tostøj-forhold under måleprocessen, forbedrer dataens nøjagtighed,
undgår at lysintensiteten bliver for satureret eller for svag til at reducere signal-tostøj-forholdet og nøjagtigheden
Optisk design
to-fiber overfører lyset fra lampe til spektrometer gennem polariseringselementer; stabil lyssti, let at skifte lampetråde
Fiber
anti-UV passivering; NA=0.22; tydelig åbning 600um
Mikro lyspunkt
diameter ≤200um, til at skelne mellem den nyttige lyset reflekteret fra foroverfladen og den ubrugelige lyset reflekteret fra
bundfladen, let at montere ned
Spar
1 50um, til at skelne mellem den nyttige lyset reflekteret fra foroverfladen og den ubrugelige lyset reflekteret fra bunden
overflade
Gennemsnits tabel for grundlæggende parametre:
Spektralt område
350-1000nm
C
Synlig
210-1000nm
Uc
UV-Visibel
210-1700nm
Un
UV-Vis-NIR
Optisk kompensator
RC
Enkeltkompensator
RC2
C2
Dobbelt kompensator
Spektralt område
X-Y
Herrer stræk jeans
Stor strekning op til 230mm
X-R
R
Stor diameter op til 300mm
Pakning & Levering
Virksomhedsprofil
Minder-Hightech er salgs- og service repræsentant inden for udstyr i semiconductor- og elektronikproduktindustrien. Siden 2014 har firmaet været dedikeret til at levere kunderne Præstationskyndige, Pålidelige og Alt-i-Ét-Løsninger for maskinudstyr.
Ofte stillede spørgsmål
1. Om Pris:
Alle vores priser er konkurrencedygtige og forhandlingsbar. Prisen varierer alt efter konfigurationen og graden af tilpasning af din enhed.

2. Om Sample:
Vi kan tilbyde eksempelproduktionstjenester, men du skal muligvis betale nogle gebyrer.

3. Om Betaling:
Når planen er bekræftet, skal du først betale en afgift, og fabrikken vil begynde at forberede varerne. Når udstyret er klar, og du har betalt restbeløbet, sender vi det ud.

4. Om Levering:
Når produktionen af udstyret er færdig, sender vi dig acceptancetest-videoen, og du kan også komme til lokationen for at inspicere udstyret.

5. Installation og Fejlsøgning:
Når udstyr ankommer på din fabrik, kan vi sende ingeniører ud for at installere og afstille udstyret. Vi vil give dig et separat tilbud for denne servicegebyr.

6. Om garanti:
Vores udstyr har en 12-måneder garanti periode. Efter garanti perioden, hvis nogen dele er skadede og skal erstattes, vil vi kun opkræve kostprisen.

Flere produkter

Forespørgsel

Copyright © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. Alle rettigheder forbeholdes

Privatlivspolitik

Forespørgsel Email Whatsapp TOP
×

Tilgå os