Manuální prober waferů řady MP-M , China Manuální prober waferů řady MP-M Manufacturers, Suppliers, Factory

Úvod do produktu:

Pokud je váš testovací PAD větší než 30 µm, řada MP-M je jednou z vašich prvních voleb v laboratoři.

Charakteristiky výrobku:

1. Modernizovatelný modulární design

2. Různé moduly lze vybrat podle požadavků na testování

3. Uzavřená mobilní platforma, prachotěsná, odolná a přesnější pozicování

4. Základna s adaptivní izolací Po Mater

5. Použití tlumičů otřesů dovezených z Německa pro zlepšení stabilitu testu

Parametry produktu:

Manuální sondační model		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Sklíčidlo	Materiál chucku	Nerezová ocel/Nikl nebo měď pokovená zlatem
	Zvedák upínače	N/A	Rychlé zvednutí 5 mm, jemné nastavení 6 mm
	Pohyb rychle	N/A	N/A	√
Zvedák platformy mikroposuvu		N/A	N/A	Rychlé zvednutí 5 mm, jemné nastavení 40 mm, hrubé nastavení 300 mm μm
Mikroskop		Standardní tělo mikroskopu (volitelné zrcadlo video-mikroskopu), lze zvětšit až 100x	Standardní metalografický mikroskop PSM-1000 / volitelný (GX-6 metalografický, stereoskopický, video) mikroskop, lze zvětšit až 2000x , a mikroskop lze pneumaticky nastavovat nahoru a dolů
Sonda specifikace	Unikající proud	Koaxiální 1 pA/V při 25 °C °C; Tři hřídele 100 fA/V při 25 °C; Triaxiální 10 pA při 3 kV při 25 °C, Zkušební podmínky: suché prostředí pro uzemňovací clonu (rosný bod vzduchu nižší než -40 °C)
	Typ konektoru	Banánová hlavice/Krokodýlová svorka/Koaxiální/Triaxiální rozhraní
Zkušební aplikace		DC/(IV, CV) zkoušení Zkoušení nízkého proudu (třída 100 fA) test šumu 1/f Charakterizační test zařízení WLR, stárnutí RF testovací frekvence až do 110 GHz Test vysokého výkonu/vysokého proudu/vysokého napětí
		/	Test analýzy poruch	Test analýzy poruch