Elmî araşdırma Halqlar Optik spektr Spektroskopik Eliptometr , China Elmî araşdırma Halqlar Optik spektr Spektroskopik Eliptometr Manufacturers, Suppliers, Factory

Məhsul Təsviri

Spektroskopik Elipsometr

Spektral elipsometr sürətli və çox nöqtəli avtomatlaşdırılmış testləri tamamlaya bilər və bir klik ilə namunənin birləşməsini sinə bilər. Məhsul polarizatoru, analizatoru və kompensatoru hər ikisi də band fasiləsi kompensasiya funksiyasına malik mutlak kodlu yüksək-dəqiqliq pozisiya bloklama cihazları ilə təchiz edilib, bu isə sistem dəqiqliyini və stabilliyini artırır. Dual lif arxitekturasından istifadə edərək işıq toplama effektivliyini artırmaq üçün, yeganə spektrlar etibarsız asit polirovka səthləri və ya ədadi piramidal ön səthlər üçün test və analiz üçün toplanır. Bundan əlavə, odautofoq, işıq intensivliyi seçimi və faz kompensasiyası kimi əsas funksiyalar da var.
Materialların optik xüsusiyyətlərinin yüksək-dəqiqlikli və yüksək-effektivlikli analizinə hazırlanan. Avtomatik olaraq, sürətlə və
materialların qatıq indeksini, söndürmə katsayısını və filmli qatınlığını dəqiqlərlə ölçün. Elmi araşdırma, polikristallin, fotovoltaiklər, optik kövrəklər, göstərici panel və başqa sahələrdəki inkişaf ihtiyyacına uyğun gəlir.

Ölçü nesnəsi:

Optik kövrək: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205,Ti02, Ta205, A2O3, MgF2,Pi.
Göstərici: OLED(AIG3, PCBM, NPB, NPD...), elektrodlar(ITO, PEDOT, MgO, Ag, Al, Mg...) ...
Fotovoltaik: Si, Poly-Si, SiNx, CdS, CIGS, CdTe, PFN-Br, ABX3, PEDOT:PSS, PTB7-Th:PC71BM.
Semiçductor: Photoresist, ZnO, SiON, SiC, SiGe, GaN, AIN, InP, GaAs, AlxGa(1-x)N
Digərlər: OCD, 2-D materiallar, Van der Waals heterojunktions və cihaz...

Məhsul funksiyası:

Qatışdırma indeksi ölçümü: Məlumatların fərqli uzunluqlarda olan qatışdırma indeksini dəqiqləşdirin, bu da optik dizayn və material araşdırması üçün əsas məlumat verir.
İmtina koeffisiyenti ölçümü: Materialların işıq emisyon xüsusiyyətlərini analiz edin ki, bu opto-elektromekanik cihazların performansını optimallaşdırmağa kömək edir.
Filmin qalınlığı ölçümü: Nanometr-dək mikron səviyyəsindəki filmlərin qalınlığını yüksək qarşılıq ilə və yaxşı təkrarlanmaqla aşkarlayır.
Sürətli avtomatik test: Çox nöqtəli avtomatik skanlayıcı funksiyası ilə, ölçüm sürəti 1 saniyə/nöqtə olaraq çoxlu testlərin effektivliyi böyük dərəcədə artırılır.

Ölçüm prinsipi:

Elipsometriya ölçümü prinsipi ortam səthindən əvvəl və sonra optik reversin polaryzasiya halının dəyişməsinə əsaslanır, optik xüsusiyyətləri və struktur məlumatlarını alınması üçün.

Daxil olunan şaquli iki perpendikulyar istiqamətdə analiz edilir, p işıq səthin zəngi ilə paraleldir
dalgalar, işıq dələyinin titrilməsinə perpendikulyar olan ışıq dalgası. P ve S işıqının amplitudları və fazları, əgər qızqıdan ortamın səthinə çəkilərsə, dəyişir.

Ortamın fiziki xüsusiyyətləri ilə polarizasionun vəziyyətinin dəyişməsi arasındakı əlaqə.

Aparat işləmə ortamı:

Enerji: 220VAC+10%
Otaq temperaturu: mühit temperaturu (10-30)℃
Nisbi rəsmi: (20-80)%RH

Spektrometr:

Ağlayış vahidi: 2048 pikselli sürətli arxa-yüklü CCD detektor
Təfərrüatlı parametrlər:
1. spektr diapazonu 350nm-1000nm-dən yaxşı
2. qarışıq işıq<0.02%@400nm
3. sinyal-şöbə nisbəti 4800
4. dinamik diapazon 50000:1
5. holografiya ilə işıq yolu
6. rəqəmsal qatılıq 16-bit
7. oxuma sürəti >400kHz
8. məlumat köçürmə sürəti 600MB/s
9. minimum inteqrasiya vaxtı/sazlama addımı 6 µs/1µs
10. xarici tetikləmə gecikməsi 95ns+/–20ns
11. kompüter interfeysi USB4.1C/2.0
12. işləm sistem Win 7/in 8/Win 10
ortalama QE UV bölgəsində, arxa-illüminasiyalı CCD, ortalama QE ≥75%Micro TE şiftdirici sistemi, şiftdirilən temperatur 30'c
çevrə temperaturlarından aşağıdır.
Integrasiya metodu proqram təyinatları ilə idarə olunan avtomatik integrasiya vaxtı qoyulması, ən yaxşı nəticəni almaq üçün istifadə edilir

İşıq mənbəyi sistemi:

İstifadə edilən işıq qaynağı kvarts cümlü halogen lampa, dalgınlığın aralığı 350nm-2000nm, yaradanlıq vaxtı 50000 saatdan uzundur.
Halogen lamp üçün məqsədən asılı olmayan elektrik təchizatı, gerilim 4.9vd

Avto fokus funksiyası ilə sahə:

Avto fokus funksiyası ilə ən yaxşı ölçüm pozisyonuna ötürün Stroke:100mm
Dəqiqlik: 0.0005mm Mənfi və müsbət limitlərlə birlikdə və sıfır-pozisiya sensoru ilə yer limiti; avto fokus funksiyasının başlanğıc pozisyonu, bitiş pozisyonu və addım uzunluğu proqramda Gaus regresiya üsulu ilə təyin edilə bilər; təyin edilmiş inteqrasiya vaxtlarını qoyun və Fokus üsulu ilə intensivliyi toplayın

Məhsul strukturu

Speksifikasiya

Optik sistem：

Daxil olma bucağı	65°
Şaquli sapma	< 0.3°
Ölçü parametrləri	Psi&Del, TanPsi&CosDel, Alpha&Beta
Polarizatorlar	Glan-Thompson
Material	a-BBO
Kompensator	çeyrek dalgıncı faz gecikmesi, hiper akrömatik
İntensivlik seçimi	Lineer optik yoğunluq seçimi elementi. Ölçü alma prosesində iyi sinyal-gürültü nisbəti təmin edir, məlumat doğruluğunu yaxşılaşdırır, istilik intensivliyinin şəbt olmasına və ya çox zəif olmasına səbəb olan sinyal-gürültü nisbəti və doğruluğun azalmasını dayandırır
Optik dizayn	ikili lif ətrafından lampa dan spektrometrə qüvvətliyyin daxil edilməsi polarizasiya elementləri ilə; stabilləşmiş işıq yolu, lamların dəyişdirilməsi rahatdır
Lif	anti-UV passivləşdirici; NA=0.22; aydınlanma diaframası 600um
Mikro işıq nöqtəsi	çap ≤200um, istifadəli işıqın öncərək səthdən və istifadəsiz işıqın tərk edilməsini ayırd etmək üçün alt səth, sörfə etmək asandır
Bölünmüş	1 50um, əvvəlki səthdən geri qaçan faydalı işıq və alt səthdən geri qaçan faydasız işıq arasında ayırım üçün səth

Əsas parametr seçimi cədvəli:

Spektral diapazon	350-1000nm	C			Görünür
		210-1000nm	UC			UV- видимый
		210-1700нм	Bir			UV-Vis-NIR
Optik müqayiəsçi	UZ				Yalnızlıq müqayiəsçi
Optik müqayiəsçi		RC2		C2		İkiölçülü kompensator
Spektral diapazon	X-Y			M	Ən çox 230mm-ə qədər böyük sirt
Spektral diapazon		X-R			R	Ən çox 300mm-ə qədər böyük diametr

Qablaşdırma və Çatdırılma

Şirkət Profili

Minder-Hightech, semiqondüktor və elektron məhsul endustrisi təchizatında satış və xidmət nümayəndisidir. 2014-cü ildən bu yana şirkət, müştərilərə Ən Yaxşı, Güvəndirici və Bir Məkanlı Həllər təklif etməyə çalışır.

SSS

1. Qiymət haqqında:
Bizim bütün qiymətlərimiz rəqabətçi və müzakirə edilə bilən dir. Qiymət, cihazınızın konfiqurasiyasından və xüsusilaşdırma mürəkkəbliyindən asılı olaraq dəyişir.

2. Nümunə haqqında:
Siz üçün nümunə hazırlama xidməti göstərə bilərik, lakin bir neçə ödəniş tələb edilə bilər.

3. Ödəniş haqqında:
Plan təsdiqləndikdən sonra, əvvəlcə bizə avans ödəməlisiniz və zavqat məhsul hazırlaşdırmağa başlayacaq. Təsnif hazır olunca və balansı ödədikdən sonra, göndəririk.

4. İstedak haqqında:
Əməliyyat mühafizə cihazlarının hazırlanması bitdikdən sonra sizə qəbul videolarını göndərəcəyik və siz də cihazları yoxlamaq üçün buraya gəlməyə bilərsiniz.

5. Quraşdırma və ayarlamalar:
Cihazlar zavquzunuza çatdıqdan sonra, biz inžinərləri göndərmək olar ki, onlar cihazları quraşdırıb səhv yoxlasın. Bu xidmət haqqı üçün size fərqli qiymət təklif edəcəyik.

6. Garanti haqqında:
Bizim cihazlar 12 aylıq zəmanət müddəti ilə gəlir. Zəmanət müddəti keçib daha sonra, əgər hansısa hissələr pozulub və əvəz edilməsi lazımdırsa, yalnız maliyet qiymətini götürəcəyik.

Ana Səhifə

Biz Haqqımızda

MH Texnikası

Həll

Dəhliz İstifadəçiləri

Video

Əlaqə saxlayın

Elmî araşdırma Halqlar Optik spektr Spektroskopik Eliptometr

Spektroskopik Elipsometr

Ölçü nesnəsi:

Məhsul funksiyası:

Ölçüm prinsipi:

Aparat işləmə ortamı:

Spektrometr:

İşıq mənbəyi sistemi:

Avto fokus funksiyası ilə sahə:

Digər məhsullar

MD-FS Seriyası Kapasitor burma maşını

MD-FDS Seriyası Avtomatik Kapasitor burma maşını

MD-EFS seriyası Kapasitor Yumuşdırma Maşını

MD-EDFS Seriyası film kondensatorları burmağçı maşını

Sorğu

Articles

Products

Get In Touch