Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.

Ana Səhifə
Biz Haqqımızda
MH Texnikası
Həll
Dəhliz İstifadəçiləri
Video
Əlaqə saxlayın
Ana səhifə> Semikon İnzibaqı
  • Yüksək və Aşağı Temperaturda Vakuumlu Wafer Probir
  • Yüksək və Aşağı Temperaturda Vakuumlu Wafer Probir

Yüksək və Aşağı Temperaturda Vakuumlu Wafer Probir

Məhsul Tanıtımı

MDSM-VP-CG seriyalı prob stansiyası, ultra yüksək vakuum və yüksək temperatur şəraitində cihazların və materialların xarakteristikasının təyini üçün IV/CV xarakteristikası testi, RF testi, fotoelektrik test, elektromaqnit daşınma xarakteristikası və Hall effekti testi təqdim edə bilər.

Vakuum kamerası və radiasiya qoruma ekranı kimi komponentlərin quraşdırılması ilə inteqrasiya edilmiş yüksək temperatur, aşağı temperatur, vakuum və digər test şəraiti yaradılır ki, bu da yarımkeçirici cihazlar üçün sabit test mühitini effektiv şəkildə təmin edə bilər.

Məhsul Xüsusiyyətləri

1. 4,2 K-dən 473 K-ə qədər temperaturu dəstəkləyə bilər

2. Nümunənin temperatur bircinsliyini və dəqiqliyini artırmaq üçün radiasiyaya qarşı ekran dizaynı

3. Probun dəqiq enməsini təmin etmək üçün prob üçün istilik sink dizaynı

4. Yüklənə bilən maqnit sahəsi

5. Elastik və miqyaslanan test tətbiqi konfiqurasiyası

6. Avtomatik soyuducu axını nəzarəti, avtomatik dəqiq temperatur nəzarəti

Məhsul Parametrləri

Model

MDSM-VP-CG-O-2

MDSM-VP-CG-O-4

MDSM-VP-CG-C-2

Çak

Ölçü

2inci

4düym

2inci

Nümunənin bərkidilmə üsulu

Vakuumlu istilik yağınının/sərt yayın təzyiqi ilə möhkəmlənməsi

Boşluq dərəcəsi

10^-10 torr maksimum vakuum

Optik

xüsusiyyətlər

Mikroskopun hərəkəti

R oxu 360 ° + hərəkətli ox 100 mm

Qazanış

Zum: 7:1, həll etmə qabiliyyəti 4 μm (216X böyütmə) və ya metaloqrafik mikroskop (20X~1000X)

Ölçüləri

nəzarət pəncərəsi

2inci

4düym

2inci

Temperatur

i̇darəetmə

texniki xarakteristikalar

CCD pikseli

50W (simulyasiya)/200 Vt (rəqəmsal)/500 Vt (rəqəmsal)

SZİ metodu

Maye azot/maye helium

Soyuducu kompressorlar

İdarəetmə Metodu

Açıq dövr idarəetmə: manual/avtomatik soyuducu axını idarəetməsi

Qapalı dövr avtomatik idarəetmə

Məsafə

77 K~473 K/4,2 K~473 K

7,3 K~473 K

Həll

0,001 K

Sabitlik

4,2 K ±0,2 K 77 K±0,1 K 373 K±0,08 K 473 K±0,1 K

Sonda xüsusiyyəti

Sondajın nömrəsi

Müxtəlif prob sayını 6-ya qədər artırmaq olar

Prob tənzimləməsi

Vakuum rezervuarının xarici tənzimlənməsi, əl ilə idarəetmə

Nöqtə dəqiqliyi

2μm

Cərəyan sızması

1pA/V @25 ℃, 100fA/V @25℃

Bağlantı Növü

Triaxial/SMA/K/Fiber İnterfeys

Sorğu

Sorğu Email WhatsApp Üst
×

Əlaqə saxlayın