Transistör Anahat (TO), uçların oluşturulmasına ve yüzeye montaja olanak tanıyan bir transistör paket türüdür.
Kapsüllenmiş bir cihaz olarak, paketin sızdırmaz koşullar altında toz veya nem girişi ürün performansını olumsuz etkileyebilir, doğrudan optik yolu değiştirerek sonunda arızaya neden olabilir. Bu nedenle üretim sırasında helyum kitle spektrometresi ile kaçak testi çok önemlidir ve bu işlem cihazın sızdırmazlık testini içerir.
Kapsüllenmiş lazer çipi cihazlarının küçük boyutları ve helyumla vakumlanamaması veya doğrudan doldurulamaması nedeniyle, TO tipi helyum kitle spektrometresi ile kaçak testi genellikle geri basınç yöntemini kullanır ve bu yöntem basit ve güvenilirdir. Kapsüllenmiş optik cihaz belirli bir basınçta bir kaba yerleştirilir ve sıkıştırılmak üzere helyum ortama verilir. Belirlenen süre boyunca basınç korunduktan sonra cihaz çıkarılır ve helyum dedektörüne bağlı bir vakum kabına (sızdırma test tankı) aktarılır ve kaçak testi yapılır. Otomatik test, cihazın ambalajının hava geçirmezlik gereksinimlerini karşılayıp karşılamadığını doğrular.
Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.
Telif Hakkı © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. Tüm Hakları Saklıdır
EN
AR
BG
CS
DA
NL
FI
FR
DE
EL
IT
KO
NO
PL
PT
RO
RU
ES
SV
TL
IW
ID
LT
SR
SL
UK
VI
ET
HU
TH
TR
FA
AF
MS
GA
IS
HY
AZ
KA
