Mataas at Mababang Temperature na Vacuum na Wafer Prober , China Mataas at Mababang Temperature na Vacuum na Wafer Prober Manufacturers, Suppliers, Factory

Pagpapakilala ng Produkto

Ang serye ng MDSM-VP-CG na probe station ay kayang magbigay ng IV/CV characteristic test, RF test, photoelectric test, electromagnetic transport characteristic, at Hall effect test para sa pagtatasa ng device at materyales sa ilalim ng ultra-high vacuum at mataas o mababang temperatura.

Sa pamamagitan ng paglalagay ng mga bahagi tulad ng vacuum chamber at radiation protection screen, ang pinagsamang mataas at mababang temperatura, vacuum, at iba pang kondisyon sa pagsusuri ay kayang matugunan nang epektibo at magbibigay ng matatag na kapaligiran sa pagsusuri para sa mga semiconductor device.

Mga Tampok ng Produkto

1. Kayang suportahan ang temperatura mula 4.2K hanggang 473K

2. Disenyo ng anti-radiation screen upang mapabuti ang uniformity at katumpakan ng temperatura ng sample

3. Disenyo ng probe heat sink upang matiyak ang tumpak na pagbaba ng temperatura ng probe

4. Ma-upgrade na magnetic field loading

5. Fleksible at maaring palawakin na konpigurasyon ng aplikasyon sa pagsusuri

6. Automatikong kontrol sa daloy ng refrigerant, awtomatikong tumpak na kontrol sa temperatura

Mga Parameter ng Produkto

Modelo		MDSM-VP-CG-O-2	MDSM-VP-CG-O-4	MDSM-VP-CG-C-2
Chuck	Sukat	2pulgada	4inch	2pulgada
	Paraan ng pag-aayos ng sample	Pugon na thermal grease/manipis na spring
	Antas ng vacuum	10^-10torr pinakamataas na vakuum
Optical mga katangian	Paggalaw ng mikroskopyo	R axis 360 °+galaw na aksis 100mm
	Gain	Zoom: 7:1, resolusyon 4 μm (magnipikasyon 216X) o metalurhikal na mikroskopyo (20X~1000X)
	Mga sukat ng bintana para sa pagpapasya	2pulgada	4inch	2pulgada
Temperatura kONTROL mga Spesipikasyon	CCD pixel	50W （simulation）/200W（digital）/500W（digital）
	Paraan ng paglamig	Nitrogeno likido/helium likido		Mga Refrigeration Compressor
	Control Method	Buksan ang kontrol ng daloy ng manu-manong/awtomatikong refriyante sa siklo		Saradong loop na awtomatikong kontrol
	Saklaw	77K~473K/4.2K~473K		7.3K~473K
	Resolusyon	0.001K
	Katatagan	4.2K ±0.2K 77K±0.1K 373K±0.08K 473K±0.1K
Spesipikasyon ng proba	Bilang ng probe	Maaaring palawakin ang bilang ng iba't ibang probe hanggang sa 6
	Regulasyon ng probe	Panlabas na pag-angkop ng vacuum bellows, manu-manong kontrol
	Katiyakan ng tuldok	2μm
	Panghihina ng kuryente	1pA/V @25 ℃，100fA/V @25℃
	Uri ng Konektor	Triaxial/SMA/K/Fiber Interface