Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.

Strona Główna
O Nas
MH Urządzenia
Rozwiązanie
Użytkownicy Zagraniczni
Wideo
Skontaktuj się z nami
Strona główna> Inspekcja semikonduktorowa
  • Prober krzemowych płytek w warunkach wysokiej i niskiej temperatury w próżni
  • Prober krzemowych płytek w warunkach wysokiej i niskiej temperatury w próżni

Prober krzemowych płytek w warunkach wysokiej i niskiej temperatury w próżni

Wprowadzenie do produktu

Stacja probiercza serii MDSM-VP-CG może zapewnić testy charakterystyk IV/CV, testy RF, testy fotoelektryczne, charakterystyk transportu elektromagnetycznego oraz efektu Halla dla urządzeń i materiałów w warunkach ultra wysokiej próżni oraz wysokich i niskich temperatur.

Poprzez montaż komponentów takich jak komora próżniowa i ekran ochronny przed promieniowaniem, zintegrowane warunki testowe wysokiej i niskiej temperatury oraz próżni skutecznie spełniają wymagania i zapewniają stabilne środowisko testowe dla urządzeń półprzewodnikowych.

Cechy produktu

1. Może wspierać zakres temperatur 4,2 K – 473 K

2. Projekt ekranu antyradiacyjnego poprawia jednorodność i dokładność temperatury próbki

3. Projekt chłodzenia sondy zapewnia precyzyjne osadzenie sondy

4. Możliwość ulepszenia do pracy z zewnętrznym polem magnetycznym

5. Elastyczna i skalowalna konfiguracja aplikacji testowych

6. Automatyczna kontrola przepływu czynnika chłodzącego, automatyczne precyzyjne sterowanie temperaturą

Parametry produktu

Model

MDSM-VP-CG-O-2

MDSM-VP-CG-O-4

MDSM-VP-CG-C-2

Cmokanie

Rozmiar

2cal

4 cala

2cal

Metoda mocowania próbek

Próżniowy klej termalny/sprężyna dociskowa

Stopień próżni

ciśnienie próżni maksymalnie 10^-10 tora

Optyczny

właściwości

Zakres ruchu mikroskopu

Oś R 360 °+ oś ruchoma 100 mm

Zysk

Zoom: 7:1, rozdzielczość 4 μm (powiększenie 216X) lub mikroskop metalograficzny (20X~1000X)

Wymiary

okno obserwacyjne

2cal

4 cala

2cal

Temperatura

kontrola

specyfikacje

Liczba pikseli CCD

50W (symulacja)/200 W (cyfrowy)/500 W (cyfrowy)

Metoda chłodzenia

Azot ciekły/hel ciekły

Kompresory chłodnicze

Metoda sterowania

Ręczna/automatyczna kontrola przepływu czynnika chłodniczego w obiegu otwartym

Automatyczna kontrola w obiegu zamkniętym

Zakres

77 K~473 K/4,2 K~473 K

7,3 K~473 K

Rozdzielczość

0,001 K

Stabilność

4,2 K ±0,2 K 77 K±0,1 K 373 K±0,08 K 473 K±0,1 K

Specyfikacja sondy

Numer sondy

Liczba różnych sond może być rozszerzona do 6

Regulacja sondy

Zewnętrzna regulacja mechanizmu próżniowego, sterowanie ręczne

Dokładność punktu

2μm

Przeciek prądu

1pA/V @25 ℃,100fA/V @25℃

Typ złącza

Interfejs triaksyalny/SMA/K/włókłowy

Zapytanie

Zapytanie Email Whatsapp WeChat
GÓRA
×

Skontaktuj się z nami