SDC-80 Kontaktinio Kampą Matuoklis , China SDC-80 Kontaktinio Kampą Matuoklis Manufacturers, Suppliers, Factory

Produkto aprašymas

SDC-80 Kontakto kampų matavimo prietaisas

Šis prietaisas yra pagamintas naudojant šiuolaikinę technologiją, taikoma giliau profesionalus CCD skaitmeninis fotoaparatas, įgulėtas
aukštosios raiškos didinimo mikroskopas ir aukštos ryškumo LED fono šviesos šaltinio sistema. Jis gali judėti viršūnėje ir apačioje, kairėje ir dešinėje, pirmyn ir atgal ir t.t. su 3D parinkties podiu. Galima pasiekti mikroinjekciją ir tikslų judėjimą viršūnėje ir apačioje, kairėje ir dešinėje. Tuo pačiu, darbalaukis su teleskopinės sandaros stotimi yra sukurtas, kad pritaikytųsi skirtingoms darbo situacijoms. Prietaiso rėmimas gali būti sutvarkytas pagal parinkties dydį, o tai išplėsta prietaiso naudojimo sritį. Programinė įranga yra suderinta su koregavimo funkcija. Po kelių testų rezultatai gali būti išsaugoti tame pačiame testo ataskaitoje tuo pačiu metu, kad vartotojas galėtų geriau kontroliuoti medžiagos duomenis. Prietaisas yra gražus požiūriu, paprastas veikimo ir tenkinamas vartotojų poreikius. Jis yra skirtas vartotojams, kurie matuoja kontaktinius kampus įvairiose pramonės srityse.

SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument details

SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument supplier

PROGRAMA

TFT-LCD panelo pramonė: stiklo panelių švarumo ir sluoksnio kokybės matavimas; TFT spausdinimo schema, spalvinių filtražių, ITO konduktorinio filmo ir kitų prieš spalvotą kokybę tikrinti.
Spaudos, plastmačių pramonė: paviršiaus valymas ir suklaidos kokybės tyrimas; spalvos prisijungimo matavimas; kleistojo koloidų suderinamumo matavimas; barvies įkrovos.
Semiconductor pramonė: talpyklos švarumo matavimas; HMDS apdorojimo kontrolė; CMP tyrinėjimai, fotorezistuoklių tyrinėjimai naudojant kaitmenis.
Cheminių medžiagų tyrimas: vandeningumo matavimas hidrofiliniuose materijaluose; paviršiaus aktyvumas ir švarinimo įtampa, drėgmė; klajimo padidinimas ir prisijungimo paviršiaus energijos matavimas.
IC paketai: pagrįsti paviršiaus švarumu; atomine sintezės oksidacijos pripažinimas; BGA dėmės paviršius; epoksinis prisijungimas.
matavimas.

Specifikacija

Įrenginio specifikacija
Įrangos pagrindas
apskritusios matmenys	420mm (ilgis) * 150mm (plotis) * 400mm (aukštis)
Pagrindinio aparato svoris	3.2kg
šaltinis
įtampa	100～240Vac
galia	20W
dažnis	50/60Hz
erdvė
Platformos dydis	130mm×150mm
Didžiausias pavyzdys	180mm×∞×30mm
Pavyzdžių stalo derinimas	3 D rankinis derinimas (galimybė atnaujinti automatizuotą)
Pavyzdžių stalo derinimas		Priekinė ir galinė rankinė reguliacija, nuotolis 60mm, tikslumas 0.1mm Kairės ir dešinės pusės rankinė reguliacija, nuotolis 35mm, tikslumas 0.1mm Aukščio rankinė reguliacija, nuotolis 80mm, tikslumas 0.1mm
vaizdo surinkimo sistema
Maksimalus vaizdas	3000（H）× 2000（V）
Maksimalus kадro dažnis	70 kadrų per sekundę
jutiklis	SONY 1/1.8"
šviesos spektras	Juodasis ir baltais / spalvotas
ROI	naudotojo apibrėžtas
Rodyti linijos plotį	naudotojo apibrėžtas
ekspozicijos laikas	naudotojo apibrėžtas
šaltinis	5 VDC USB sąsaja
pervesti	USB3 Vision
Mikroskopio galva
fokalinis atstumas	100mm
daugiklis	Aštuonias kartas
Raiškos mastelis	6～12µm
šviesos šaltinis
tipas	Vienobangis pramoninis LED (šalta šviesa)
bangos ilgis	460nm
šviesos laukas	40mm×20mm
ekspluatavimo trukmė	50000Valandų
Įdejimo sistema
Nuolydis metodu	Sluoksnių tikslumas mikrosiringės
valdymo metodas	rankinio valdymas
Nuolydžio tikslumas	0.1μl
įdejkla	Aukštos tikslumo oro hermetiška syringė
talpa	1000μl
pikos galas	0,51 mm visi iš nerūdijančiojo metalo superhidrofobinė jūklė (standartinis)
programinė įranga
Kontakto kampų diapazonas	0～180°
rezoliucijos santykis	0.01°
Kontakto kampą matuojančios metodai	Visiškai automatinis, pusiautomaticinis ir rankinis darbas
analizės režimas	Nustatytas nuotritmieji metodas (2/3 būsenos), burbulų fiksuojimo metodas, sedimento nuotritmieji metodas
analizinis procedūra	Statinių analizė, dinaminė analizė skystojo didėjimo ir sumažėjimo, dinaminė mokymosi analizė, realaus laiko analizė, dvipusė analizė, pirmyn ir atgal kampų analizė analizė, pirmyn ir atgal kampų analizė
testavimo metodas	Apskritimo metodas, elipsės / pasukusios elipsės metodas, diferencialinis apskritimas / diferencialinė elipsė metodas, Young-Laplace, plotis ir aukštis metodas, liestinio metodas, intervalo metodas
paviršinė laisva energija
testavimo metodas	Zisman, OWRK, WU, WU 2, Fowkes, Antonow, Berthelot, EOS, suklejimo darbas, nubrėžimo darbas ir plastravimo koeficientas
duomenų valdymas
Išvesties metodas	Automatinis generavimas, galima eksportuoti / spausdinti EXCEL, Word, spektrogramą ir kitus ataskaitų formatus

Pakavimas ir pristatymas

SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument manufacture

Įmonės Profilis

DUK

1. Apie kainą:
Visos mūsų kainos yra konkurencingos ir deramomos. Kaina skiriasi priklausomai nuo jūsų įrenginio konfigūracijos ir personalizacijos sudėtingumo.

2. Apie pavyzdį:
Galime jums teikti pavyzdžių gamybos paslaugas, tačiau jūs turėtumėte sumokėti kai kokių mokestinių.

3. Apie mokėjimą:
Kai planas bus patvirtintas, pirmiausia turite mums užpildyti užstato sumą, o gamyklė pradės paruošti prekes. Kai
įranga bus pasiruošusi, o jūs sumokosite likusią sumą, mes ją siųsime.

4. Apie tobulinimą
Kai bus baigta įrangos gamyba, mes jums nusiųsiame priėmimo vaizdo įrašą, o jūs taip pat galite atvykti į vietą, kad inspekciją atliktumėte.

5. Montavimas ir derinimas
Kai įranga bus pristatyta į jūsų gamyklą, mes galime išsiųsti inžinierius montuoti ir derinti įrangą. Šios paslaudos kainą mes jums pateiksime atskiroje kainodarboje.

6. Apie garantiją
Mūsų įrenginys turi 12 mėnesių garantijos laikotarpį. Po garantijos termino, jei bet kokie detales yra sugadintos ir reikia jas pakeisti, mes imsis tik kainodaros išlaidas.