Პროდუქტის წარმოდგენა:
MP-E სერია ფუნქციონალურად გაუმჯობესებული პრობის სტანციაა, რომელიც შეუძლია ელექტროდის/PAD-ის ზომის შემოწმება 1μm-ზე მეტი ზომისთვის და შესაძლებელია ტესტური ფუნქციების დამატება უფრო დაბალი ხარჯებით.
Პროდუქტის თვისებები:
1. Chuck-ის ასაკეთებლად და ჩამოსაკეთებლად სწრაფად გამოიყოს პრობი ნიმუშისგან;
2. სტანდარტული მეტალოგრაფიული მიკროსკოპი, PAD-ის ტესტირება 1μm-ზე მეტი;
3. შეიძლება იყოს აღჭურვილი ლაზერით FA ტესტირებისთვის/ლაზერული კვეთისთვის;
4. მიკროსკოპის პნევმატიკური სწრაფი ასაკეთებელი, მარტივად შეიცვლება მიკროსკოპი და პრობის ბარათის დამჭერი;
5. POMater Adaptive Isolation Base;
6. გერმანიიდან შემოტანილი შოკშემსუბუქებელი მასალების გამოყენება ტესტირების სტაბილურობის გასაუმჯობესებლად.
Პროდუქტის პარამეტრები:
Რეგულირებადი პრობის მოდელი |
MP-M4/MP-M6/MP-M6mini |
MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12 |
MP-H6/MP-H8/MP-H12 |
|
Ჩაკ |
Ჩაკის მასალა |
Ღირსი ფოლადი/ნიკელი ან გალვანური საფარით მოჭედული სამუშაო |
||
Ჩაკის აწევა |
N/A |
Სწრაფი აწევა 5მმ, ზუსტი კორექტირება 6მმ |
||
Სწრაფად გადაადგილება |
N/A |
N/A |
√ |
|
Მიკროპოზიციონერის პლატფორმის აწევა |
N/A |
N/A |
Სწრაფი აწევა 5მმ, ზუსტი კორექტირება 40მმ, მიუხედავი კორექტირება 300 μm |
|
Მიკროსკოპი |
Სტანდარტული სხეულის მიკროსკოპი (ვიდეო მიკროსკოპის სარკის ვარიანტი), შეიძლება გადიდდეს 100-ჯერ |
Სტანდარტული PSM-1000 მეტალოგრაფიული მიკროსკოპი / ვარიანტად (GX-6 მეტალოგრაფიული, სტერეო, ვიდეო) მიკროსკოპი, შეიძლება გადიდდეს 2000-ჯერ და მიკროსკოპი შეიძლება ჰაერის კონტროლით ზემოთ და ქვემოთ გადაადგილდეს |
||
|
Ზონდი სპეციფიკაცია |
Დენის წაიქცევა |
Კოაქსიალური 1pA/V @ 25 °C; სამღერი 100fA/V @ 25 °C; ტრიაქსიალური 10pA@3kv @25°C, Ტესტირების პირობები: გამაგრების დაცვის მშრალი გარემო (ჰაერის წყლის წერტილი არანაკლებ -40 °C) |
||
Კონექტორის ტიპი |
Ბანანისებური თავი/ალიგატორის კლიპი/კოაქსიალური/ტრიაქსიალური ინტერფეისი |
|||
Ტესტირების გამოყენება |
DC/(IV, CV) ტესტირება Დაბალი დენის (კლასი 100fA) ტესტირება 1/f ხმაურის ტესტი Მოწყობილობის თვისებების განსაზღვრის ტესტი WLR, პირობითი ცვენის ტესტი RF ტესტირების სიხშირე 110 გჰც-მდე Მაღალი სიმძლავრის/მაღალი დენის/მაღალი ძაბვის ტესტირება |
|||
/ |
Შეცდომის ანალიზის ტესტი |
Შეცდომის ანალიზის ტესტი |
||
Საავტორო უფლება © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. ყველა უფლება დაცულია