Გუანგზოუ Minder-Hightech Co., Ltd.

Მთავარი გვერდი
Ჩვენს შესახებ
MH აპარატურა
Გამოსახულება
Სხვა ქალაქის მომხმარებლები
Ვიდეო
Დაგვიკავშირდით
Მთავარი> Სემიკონ ინსპექტ
  • Შეცდომის ანალიზის ვაფერის პრობერი
  • Შეცდომის ანალიზის ვაფერის პრობერი

Შეცდომის ანალიზის ვაფერის პრობერი

Პროდუქტის წარდგინება

MDSM-FA სერიის პრობერი განკუთვნილია შეცდომის ანალიზის ლაბორატორიისთვის. მას აქვს ოპტიკური და ლაზერული მახასიათებლები, სტაბილური მოწყობილობის სტრუქტურა, გამორჩეული სისტემური შესრულება, ინტუიციური, მოსახერხებელი ოპერაციები, მრავალფუნქციური განახლების მხარდაჭერა და მდიდარი, სრულყოფილი პროდუქტის ფუნქციები.

Პროდუქტის მახასიათებლები

1. პრობის ბარათის მხარდაჭერა უზრუნველყოფს კონტაქტის ეფექტიანობის გაუმჯობესებას;

2. ჩანქი შეიძლება აიწიოს და დაიწიოს ნიმუშისგან სწრაფად გამოსაყოფად;

3. სტანდარტული მეტალოგრაფიული მიკროსკოპი, PAD-ის ტესტირება 1 მკმ-ზე მეტი;

4. მიკროსკოპის ჰაერით კონტროლირებადი ასასვლელის რეგულირება;

5. მრავალტალღური ლაზერის გამოყენება, სწრაფი გადართვა და ზუსტი დამუშავება.

Პროდუქტის პარამეტრები

Მოდელი

MDSM-FA-H

MDSM-FA-C

Ჩაკ

Მინიმალური გადაადგილება

1μm

1μm

Ტემპერატურის დიაპაზონი

RT~300

-60℃~300℃

Სწრაფად გამოიღეთ

N/A

Სიარული 290მმ

Მიკროსკოპი

Სტანდარტული PSM-1000 მეტალოგრაფიული მიკროსკოპი, რომელიც შეიძლება გადიდდეს 2000X-მდე; მიკროსკოპი შეიძლება ჰაერის კონტროლით გადაიყვანოთ

Ლაზერული მახასიათებლები

Მიკროდამუშავების შესაძლებლობა

შეიძლება აირჩეს 1064/532/355/266ნმ დიაპაზონები

ენერგია

Გამოტანის სიმძლავრე 2.2მჯ/იმპულსი (განახლებადი)

ჯგუფი

Დამუშავებადი მასალები: Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/პოლი სილიციუმი/Mo/SiN/CF მინარევები, და ა.შ.

სიზუსტე

Მინიმალური დამუშავების სიზუსტე 1*1 მკმ (100X ლინზით)

გაგრილების მეთოდი

Ჰაერით გასაცივებელი ან წყლით გასაცივებელი ლაზერის არჩევანი

EMI დაცულობა

N/A

 

Ინკვირი

Ინკვირი Email Whatsapp TOP
×

Დაკავშირდით