Წინა:Ავტომატური ოპტიკური შემოწმების (AOI) გამოყენება
Შემდეგი:Სიმძიმის სკანირების მიკროსკოპის ამოხსნა სემიკონდუქტორის ინდუსტრიაში
Საავტორო უფლება © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. ყველა უფლება დაცულია
Პრივატულობის პოლიტიკა
EN
AR
BG
CS
DA
NL
FI
FR
DE
EL
IT
KO
NO
PL
PT
RO
RU
ES
SV
TL
IW
ID
LT
SR
SL
UK
VI
ET
HU
TH
TR
FA
AF
MS
GA
IS
HY
AZ
KA
/images/share.png)
