Mikroskop pemindai ultrasonik MDHWS114 adalah peralatan pencitraan pengujian tanpa merusak yang menggunakan gelombang ultrasonik sebagai medianya. Mikroskop ini terutama memanfaatkan gelombang ultrasonik berfrekuensi tinggi untuk mendeteksi berbagai jenis perangkat semikonduktor dan bahan, serta mampu mendeteksi cacat seperti lubang, retakan, inklusi, dan delaminasi di dalam sampel, kemudian menampilkannya secara grafis.
Selama proses pemindaian, mikroskop ini tidak menimbulkan kerusakan pada sampel, tidak memengaruhi kinerja sampel, serta secara efektif dapat memenuhi kebutuhan industri baru seperti energi terbarukan, semikonduktor, elektronika daya, bahan manajemen termal, bahan komposit berlian, dan bahan komposit serat karbon.