Dòng MP-M Máy dò Wafer Thủ công , China Dòng MP-M Máy dò Wafer Thủ công Manufacturers, Suppliers, Factory - Công ty TNHH Công nghệ Cao Minder Quảng Châu

Giới thiệu sản phẩm:

Nếu PAD kiểm tra của bạn lớn hơn 30µm, dòng MP-M là một trong những lựa chọn hàng đầu của bạn trong phòng thí nghiệm.

Đặc điểm của sản phẩm:

1. Thiết kế mô-đun có thể nâng cấp

2. Các mô-đun khác nhau có thể được chọn tùy theo yêu cầu kiểm tra

3. Bệ di động kín, chống bụi, bền bỉ và định vị chính xác hơn

4. Bệ cách ly thích ứng Po Mater

5. Sử dụng vật liệu giảm chấn nhập khẩu từ Đức để cải thiện độ ổn định khi kiểm tra

Thông số Sản phẩm:

Mẫu Prober thủ công		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Chuck.	Vật liệu mâm cặp	Thép không gỉ/đồng mạ niken hoặc vàng
	Độ nâng mâm cặp	N/A	Nâng nhanh 5mm, điều chỉnh tinh 6mm
	Di chuyển nhanh	N/A	N/A	√
Độ nâng của nền tảng vi điều chỉnh		N/A	N/A	Nâng nhanh 5mm, điều chỉnh tinh 40mm, điều chỉnh thô 300 μm
Máy hiển vi		Kính hiển vi thân chuẩn (gương kính hiển vi video tùy chọn), có thể phóng đại lên đến 100X	Kính hiển vi kim tướng PSM-1000 tiêu chuẩn / tùy chọn (GX-6 kim tướng, lập thể, video), có thể phóng đại tới 2000X và kính hiển vi có thể điều chỉnh lên xuống bằng điều khiển khí nén
Đầu dò thông số kỹ thuật	Rò rỉ dòng điện	Đồng trục 1pA/V @ 25 °C; Ba trục 100fA/V @ 25 °C; Ba đầu nối 10pA@3kV @25°C Điều kiện thử nghiệm: môi trường khô để che chắn tiếp đất (điểm sương không khí thấp hơn -40 °C)
	Loại đầu nối	Đầu chuối / Kẹp cá sấu / Giao diện đồng trục / Ba đầu nối
Ứng dụng thử nghiệm		Kiểm tra DC/(IV, CV) Kiểm tra dòng điện thấp (loại 100fA) kiểm tra nhiễu 1/f Kiểm tra đặc tính thiết bị Kiểm tra WLR, kiểm tra lão hóa Kiểm tra tần số RF lên đến 110GHz Kiểm tra công suất cao/dòng điện cao/điện áp cao
		/	Kiểm tra phân tích lỗi	Kiểm tra phân tích lỗi