Научно истраживање Полупроводници Оптички спектар Спектроскопијски елипсометар , China Научно истраживање Полупроводници Оптички спектар Спектроскопијски елипсометар Manufacturers, Suppliers, Factory

Опис производа

Спектроскопски елипсометар

Спектрални елипсометар може да заврши брзо и вишеточково аутоматско тестирање и може да тестира једноставност узорка једним кликњем. Поларизатор производа, анализатор и компензатор обоје су опремљени уређајима за блокирање позиције апсолутног кодирања високе прецизности са функцијом компензације пропуста, што повећава тачност и стабилност система. Прихватајући двоструку архитектуру влакана за побољшање ефикасности прикупљања светлости, довољно спектра се може прикупљати са гравираних површина полирања киселином или конвенционалних пирамидалних фронтова за тестирање и анализу. Такође има и основне функције као што су аутофокус, избор интензитета светлости и фазна компензација.
Дизајниран за прецизну и ефикасну анализу оптичких својстава материјала. Може аутоматски, брзо и
прецизно мере индекс преломљивости, коефицијент угасања и дебелину филма материјала. Погодан је за потребе за танким филмом и карактеризацијом материјала у научним истраживањима, полупроводницима, фотоволтаици, оптичким премазима, екранима и другим областима.

Предмет мерења:

Оптички премаз: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205,Ti02, Ta205, A2O3, MgF2,Pi.
Дисплеј: ОЛЕД ((АИГ3, ПЦБМ, НПБ, НПД...), електроде ((ИТО, ПЕДОТ, МГО, АГ, АЛ, МГ...)...
Фотоволтаични: Си, Поли-Си, СиНкс, ЦдС, ЦИГС, ЦдТЕ, ПФН-Бр, АБХ3, ПЕДОТ: ПСС, ПТБ7-Тх: ПЦ71БМ.
Полупроводник: фоторезистент, ЗНО, СиОН, СиЦ, СиГЕ, ГаН, АИН, ИНП, ГаА, АлксГА ((1-х) Н
Други: ОКД, ДВД материјали, ван дер Ваалсова хетеројункција и уређај...

Функција производа:

Мерење индекса рефракције: прецизно мерење индекса рефракције материјала на различитим таласним дужинама, пружајући кључне податке за оптички дизајн и истраживање материјала.
Измереност коефицијента угасања: Анализа карактеристика апсорпције светлости материјала како би се оптимизовала перформанса оптоелектронских уређаја.
Мерење дебљине филма: Подржава детекцију дебљине филмова на низу нанометра до микрона са високом резолуцијом и добром понављањем.
Брзо аутоматско тестирање: са функцијом аутоматског скенирања у више тачака, брзина мерења достиже 1 секунда/точку, што значајно побољшава ефикасност тестирања за куп.

Принцип мерења:

Принцип елипсометријског мерења заснован је на промени стања поларизације оптичких рефлекса пре и после површине медија, како би се добило оптичко својство и информације о структури.

Електричко поље падајућег зрака је распуштено у два вертикална правца, p светлости паралелно вибрацији светлости
талас, s светлост перпендикуларна на вибрацију светлосног таласа. Амплитуде и фазе p и S светлости ће се променити када се зрак одражава са површине медијума.

Корелација између физичких карактеристика медијума и промене стања поларизације.

У окружењу рада инструмента:

Моћ: 220ВАЦ+10%
Температура у просторији:температура околине (~10-30) °C
Релативна влажност: (((20-80)%РХ

Спектрометар:

Улазница за детекцију: 2048 пиксела брз CCD детектор са позадином осветљеношћу
Детални параметри:
1. опсег спектра бољи од 350nm-1000nm
2. лутања светлости < 0,02% @ 400nm
3. однос сигнала и буке 4800
динамички опсег 50000:1
5. холографски пут светлости
6. дигитална резолуција 16-битна
7. брзина читања > 400 kHz
8. брзина преноса података 600 МБ/с
9. минимално време интеграције/корак прилагођавања 6 нас /1 нас
10. спољно одлагање за покретање 95 нс+/-20 нс
11. компјутерски интерфејс USB4.1C/2.0
12. оперативни систем Вин 7/у 8/Вин 10
кВЕ у УВ региону са позадиним осветљењем ЦЦД, просечна КВЕ ≥75%Охладни систем микро ТЕ хлађење, температура након хлађења је 30'ц
нижа од температуре окружења.
Интеграција методе софтвер контролисан аутоматско постављање времена интеграције, може постићи најбоље

Система светлосног извора:

Светлостна галогенска лампа са кварцним сијалицом, таласни опсег 350nm-2000nm, не траје више од 50000 сати.
Потрудно независно снабдевање напоном за халогенске лампе 4,9vd

Степ са функцијом аутоматског фокусирања:

Премести узорку у најбољу позицију мерења са функцијом аутоматског фокусирањаСтрајк:100 мм
Прецизност: 0.0005mm Ограничење локације са позитивним и негативним ограничењем и сензором нулте позиције; почетна позиција, завршна позиција, дужина корака функције аутофокуса може се поставити у софтверу користећи Гаусову регресијску методу; поставите одређено време

Структура производа

Спецификација

Оптички систем:

Угао инцидента	65°
Одступање зрака	< 0,3°
Параметри мерења	Пси&Дел,ТанПси&ЦосДел,Алфа&Бета
Поларизатори	Глан-Томпсон
Материјал	а-ББО
Компенсатор	кашњење фазе четврт-таласног таласа, хипер-ахроматски
Избор интензитета	Линеарни елемент за избор оптичке густине. Обезбеђује добар однос сигнала и буке у процесу мерења, побољшава тачност података, избегава интензитет светлости који је засићен или сувише слаб да би се смањио однос сигнала и буке и тачност
Оптички дизајн	двострука влакна преносе светлост од лампе до спектрометра кроз елементе поларизације;стабилан пут светлости, погодан за промену лампа
Влакна	анти-УВ пасивација; НА=0,22;чиста отвор 600м
Микросветлост	дијаметар ≤200um, да би се разликовало корисно светло одражано од предње површине и бескорисно светло одражано од дно површине, лако се демонтира
Слит	1 50мм, за разлику између корисне светлости одражане са предње површине и бескорисне светлости одражане са дна површина

Таблица за избор основних параметара:

Спектрални опсег	350-1000nm	Ц			Видљиво
		210-1000nm	Уц			УВ-видиво
		210-1700nm	УН			УВ-Вис-НИР
Оптички компензатор	РЦ				Једини компензатор
Оптички компензатор		РЦ2		C2		Двоструки компензатор
Спектрални опсег	Х-И			М	Велики потез до 230 мм
Спектрални опсег		Х-Р			R	Велики пречник до 300 мм

Паковање и испорука

Профил компаније

Миндр-Хигтех је продајни и сервисни представник у полупроводничкој и електронској индустрији опреме. Од 2014. године, компанија је посвећена пружању клијентима супериорних, поузданих и једносталних решења за машинску опрему.

Често постављене питања

1. Постављање О Прајсу:
Све наше цене су конкурентне и преговарају се. Цена варира у зависности од комплексности конфигурације и прилагођавања вашег уређаја.

2. Постављање О примерак:
Можемо вам пружити услуге производње узорака, али можете да платите неке накнаде.

3. Уколико је потребно. О плаћању:
Након што је план потврђен, прво морате нам платити депозит, а фабрика ће почети да припрема робу. Када опрема буде спремна и ти плати остатак, ми ћемо је испоручити.

4. Уколико је потребно. О испоруци:
Након што се производња опреме заврши, послаћемо вам видео за прихватање, а такође можете доћи на локацију да прегледате опрему.

5. Појам Инсталација и дебагирање:
Након што опрема стигне у вашу фабрику, можемо послати инжењере да инсталирају и дебагују опрему. Ову накнаду за услугу ћемо вам дати одвојеном цитатом.

6. Уколико је потребно. О гаранцији:
Наша опрема има гаранцију од 12 месеци. Након гарантног периода, ако су неки делови оштећени и треба их заменити, наплаћићемо само трошковну цену.

Почетна страница

О нама

МХ опрема

Решење

Изванморски корисници

Видео

Контактирајте нас

Научно истраживање Полупроводници Оптички спектар Спектроскопијски елипсометар

Спектроскопски елипсометар

Предмет мерења:

Функција производа:

Принцип мерења:

У окружењу рада инструмента:

Спектрометар:

Система светлосног извора:

Степ са функцијом аутоматског фокусирања:

Више производа

Машина за навијање кондензатора серије MD-FS

Машина за навијање аутоматских кондензатора серије MD-FDS

Машина за навијање кондензатора серије MD-EFS

Машина за навијање филмова кондензатора серије MD-EDFS

Истраживање

Articles

Products

Get In Touch

Научно истраживање Полупроводници Оптички спектар Спектроскопијски елипсометар

Спектроскопски елипсометар

Предмет мерења:

Функција производа:

Принцип мерења:

У окружењу рада инструмента:

Спектрометар:

Система светлосног извора:

Степ са функцијом аутоматског фокусирања:

Више производа

Истраживање

Articles

Products

Get In Touch

УТРЕБНО