MP-M Serie Handmatige Waferprobeerapparaat , China MP-M Serie Handmatige Waferprobeerapparaat Manufacturers, Suppliers, Factory

Productintroductie:

Als uw test-PAD groter is dan 30 µm, is de MP-M-serie een van uw eerste keuzes in het laboratorium.

Productkenmerken:

1. Upgradebare modulaire constructie

2. Verschillende modules kunnen worden geselecteerd op basis van testvereisten

3. Gesloten mobiel platform, stofdicht, duurzaam en nauwkeurigere positionering

4. Po-Mater adaptieve isolatiebasis

5. Gebruik van uit Duitsland geïmporteerde dempmaterialen om de teststabiliteit te verbeteren

Productparameters:

Handmatige Prober Model		MP-M4/MP-M6/MP-M6mini	MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12	MP-H6/MP-H8/MP-H12
Chuck, ik ben...	Klemboutmateriaal	Roestvrij staal/nikkelen of goudplated koper
	Klemboutheffing	N.v.t.	Snelle stijging 5 mm, fijnregeling 6 mm
	Snel verplaatsen	N.v.t.	N.v.t.	√
Micropositiesysteem platformheffing		N.v.t.	N.v.t.	Snelle heffing 5 mm, fijnregeling 40 mm, grofregeling 300 mm μm
Microscoop		Standaard lichaamsmicroscoop (optioneel videomicroscoopspiegel), vergrootbaar tot 100x	Standaard PSM-1000 metallografische microscoop / optioneel (GX-6 metallografisch, stereoscopisch, video) microscoop, vergrootbaar tot 2000x , en de microscoop kan via luchtbediening omhoog en omlaag worden afgesteld
Proef specificatie	Stroomlek	Coaxiaal 1pA/V @ 25 °C; Drie-assig 100fA/V @ 25 °C; Triaxiaal 10pA@3kV @25°C, Testomstandigheden: droge omgeving voor aardingshuls (luchtdauwpunt lager dan -40 °C)
	Connector Type	Bananastekker/Krokodillenklem/Coaxiaal/Triaxiaal interface
Toepassing testen		DC/(IV, CV) testen Testen bij lage stroom (klasse 100fA) 1/f ruis test Apparaatkenmerkende test WLR, verouderingstest RF-testfrequentie tot 110 GHz Test bij hoog vermogen/hoge stroom/hoog voltage
		/	Foutanalysetest	Foutanalysetest