Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.

Startpagina
Over Ons
MH Uitrusting
Oplossing
Overzeese Gebruikers
Video
Neem Contact Op
Start> Semicon Inspect
  • MP-E Serie Handmatige Waferprobeerapparaat
  • MP-E Serie Handmatige Waferprobeerapparaat

MP-E Serie Handmatige Waferprobeerapparaat

Productintroductie

De MP-H-serie probe station is geschikt voor R&D-laboratoria, zodat zij hun budget eenmalig kunnen investeren. De chuckbewegingstechnologie kan voldoen aan uw behoefte aan efficiënt testen van de gehele wafer.

Productkenmerken

1. Drie-traps verrijdbare micropositioneringstabel voor nauwkeurige positioning en snelle scheiding van probes;

2. Standaard metallografische microscoop, Pad-test boven 1 μm;

3. Kan worden uitgerust met een laser voor FA-testen/laser snijden;

4. Pneumatisch geregelde klembewegingstechnologie voor snel uittrekken van de klem.

Productparameters

Handmatige Prober Model

MP-M4/MP-M6/MP-M6mini

MP-E4/MP-E6/MP-E8/MP-E12

MP-H6/MP-H8/MP-H12

Chuck, ik ben...

Klemboutmateriaal

Roestvrij staal/nikkelen of goudplated koper

Klemboutheffing

N.v.t.

Snelle stijging 5 mm, fijnregeling 6 mm

Snel verplaatsen

N.v.t.

N.v.t.

Micropositiesysteem platformheffing

N.v.t.

N.v.t.

Snelle heffing 5 mm, fijnregeling 40 mm, grofregeling 300 mm μm

Microscoop

Standaard lichaamsmicroscoop (optioneel videomicroscoopspiegel), vergrootbaar tot 100x

Standaard PSM-1000 metallografische microscoop / optioneel (GX-6 metallografisch, stereoscopisch, video) microscoop, vergrootbaar tot 2000x , en de microscoop kan via luchtbediening omhoog en omlaag worden afgesteld

Proef

specificatie

Stroomlek

Coaxiaal 1pA/V @ 25 °C; Drie-assig 100fA/V @ 25 °C; Triaxiaal 10pA@3kV @25°C,

Testomstandigheden: droge omgeving voor aardingshuls (luchtdauwpunt lager dan -40 °C)

Connector Type

Bananastekker/Krokodillenklem/Coaxiaal/Triaxiaal interface

Toepassing testen

DC/(IV, CV) testen

Testen bij lage stroom (klasse 100fA)

1/f ruis test

Apparaatkenmerkende test

WLR, verouderingstest

RF-testfrequentie tot 110 GHz

Test bij hoog vermogen/hoge stroom/hoog voltage

/

Foutanalysetest

Foutanalysetest

Inquiry

Inquiry Email WhatsApp WeChat
BOVENKANT
×

NEEM CONTACT OP