Mikroskop pengimbasan ultrasonik siri MDHWS641 ialah sejenis peralatan pencitraan ujian bukan merosakkan yang menggunakan gelombang ultrasonik sebagai media. Ia terutamanya menggunakan ultrasonik frekuensi tinggi untuk mengesan pelbagai peranti dan bahan semikonduktor, serta dapat mengesan kecacatan seperti lubang, retakan, inklusi, dan pengelupasan di dalam sampel, serta memaparkannya secara grafik.
Semasa proses pengimbasan, ia tidak akan menyebabkan kerosakan kepada sampel, tidak akan menjejaskan prestasi sampel, dan dapat secara berkesan memenuhi keperluan industri seperti tenaga baharu, elektronik kuasa, bahan pengurusan haba, bahan komposit berlian, bahan komposit gentian karbon, dan lain-lain.