Mikroskop pengimbasan ultrasonik MDHWS114 ialah peralatan pencitraan ujian bukan merosakkan yang menggunakan gelombang ultrasonik sebagai medium. Ia terutamanya menggunakan gelombang ultrasonik berfrekuensi tinggi untuk mengesan pelbagai peranti semikonduktor dan bahan, serta dapat mengesan kecacatan seperti lubang, retakan, inklusi dan pengelupasan di dalam sampel, dan memaparkannya secara grafik.
Semasa proses pengimbasan, ia tidak akan menyebabkan kerosakan kepada sampel, tidak akan menjejaskan prestasi sampel, dan dapat secara berkesan memenuhi keperluan industri tenaga baharu, semikonduktor, elektronik kuasa, bahan pengurusan haba, bahan komposit berlian, bahan komposit gentian karbon dan lain-lain.