Teadusliku uurimise Semiõhkondajad Optiline spektrum Spektroskoopiline ellipsoomeeter , China Teadusliku uurimise Semiõhkondajad Optiline spektrum Spektroskoopiline ellipsoomeeter Manufacturers, Suppliers, Factory

Toote kirjeldus

Spektroskoopne ellipsoomeeter

Spektraalne ellipsoomeeter võib teha kiireid ja mitmepunktseid automaatseid testimisi ning võimaldab testida ühe klõpsuga näidisega homogeensust. Toote polariseerija, analüsaator ja kompenseerija on varustatud absoluutkodeeritud täppreciitsiooniga asenditega, mis omakorda sisaldavad bandgap-kompleetfunktsiooni, mis suurendab süsteemi täpsust ja stabiilsust. Kakskaupa serest arhitektuuri kasutamine suurendab valguskoonduse efektiivsust, nii et piisavalt spektre saab koguda ka kaevetud hapest puhastatud pindadelt või tavalistest piramiidsetest eeskuuldetest testimiseks ja analüüsiks. See sisaldab ka põhilisi funktsioone nagu autofokus, valgusintensiivuse valik ja faasikompleetimine.
Möödeldud materjalide optiliste omaduste analüüsiks kõrge täpsuse ja tõhususega. See võib töötada automaatselt, kiiresti ja
täpselt mõõta materjalide lõikumisnaitajat, eemalduskoefitsienti ja filmi paksust. See sobib teadusliku uurimise, semikonduktorite, fotovooli, optiliste kaetuste ja näitete paneelide vahendite karakterseristamise vajadustele.

Mõõdukas:

Optiline kaetis: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205, Ti02, Ta205, A2O3, MgF2,Pi.
Näitus: OLED(AIG3, PCBM, NPB, NPD...), elektrodid(ITO, PEDOT, MgO, Ag, Al, Mg...) ...
Fotovoltaika: Si, Poly-Si, SiNx, CdS, CIGS, CdTe, PFN-Br, ABX3, PEDOT:PSS, PTB7-Th:PC71BM.
Põhisees: Fotoresist, ZnO, SiON, SiC, SiGe, GaN, AIN, InP, GaAs, AlxGa(1-x)N
Muud: OCD, 2-D materjalid, Van der Waals heterojüngitus ja seade...

Toote funktsioon:

Tõusekordaja mõõtmine: Täpselt mõõdetakse materjalide tõusekordajat erinevates lainepikkustes, pakudes olulist andmebaasi optilise disaini ja materjalite uurimiseks.
Lumekordaja mõõtmine: Analüüsida materjalide valguse absorktsioonimahusid, et aidata optoelektroniliste seadmete jõudluse optimeerimisel.
Filmi paksuse mõõtmine: Toetab nanomeetrite kuni mikroonipaksuste filmide mõõtmist kõrge resolutsiooniga ja heategevusega.
Kiire automaatne testimine: Hulpikupunkti automaatscanneerimisfunktsiooniga saavutab mõõtmiskiirus 1 sekund/punkt, mis suurendab oluliselt seriamootmiste tõhusust.

Mõõtmispõhimõte:

Ellipsomeetria mõõtmispõhimõte põhineb polaarisatsiooni oleku muutuste analüüsil enne ja pärast optilise kiirguse refleksiooni keskkonna pinnal, et saada optilised omadused ja struktuuriandmed.

Sissetuleva säde elektrivälja jaguneb kahe vertikaalse suuna suhtes, kus p-valgus on paralleelne valguse vibratsiooniga
laine, kus valgelahe liikumissuund on vertikaalne suhtes valgelahe vibratsioonile. P- ja S-valgelahe amplituudid ja faasid muutuvad kiirguga, mis tõuseb pinnast tagasi peegeldumisel.

Seos füüsikaliste omaduste vahel keskkonnas ja polaarisatsiooni oleku muutuse vahel.

Tööriist töökeskkond:

Virtus: 220VAC+10%
Tuba temperatuur: keskkonna temperatuur (10-30)℃
Suhteline õhunemetus: (20-80)%RH

Spektromeeter:

Detektori üksus: 2048 pikslise kiiresti tagast valgustatud CCD-detektor
Detailsemad parameetrid:
1. spektri ulatus parem kui 350nm-1000nm
2. äärevalgus<0,02%@400nm
3. signaali-koht-sõituvälisliik 4800
4. dünaamiline vahemik 50000:1
5. holograafiline valgupuu
6. digitaalne resolutsioon 16-bit
7. lugemissürge >400kHz
8. andmete edastussürge 600MB/s
9. vähim integratsiooniaseme/kohandusstep 6 µs/1µs
10. väline trigerretard 95ns+/–20ns
11. arvutikliide USB4.1C/2.0
12. operatsioonisüsteem Win 7/in 8/Win 10
keskmine QE UV-reegis risuga CCD, keskmine QE ≥75%Jahutus süsteem mikro TE jahutus, temperatuur pärast jahutamist on 30'c
madalam kui ümbristemperatuur.
Integreerimismeetod tarkvaraga juhitav automatiline integreerimisaega seadistamine, saab parima tulemuse saavutada

Valgusallikasüsteem:

Valgupall halogeenlamp kvartspüramega, lainepikkusvahemik 350nm-2000nm, ebatähe eluiga üle 50000 tundi.
Sõltumatu võimsusallikas halogeenlammast jaoks, pinge 4.9vd

Staag autofokuseerimisfunktsiooniga:

Liigutage proovi parima mõõtmispositsiooni juurde autofokuseerimisfunktsiooniga. Stroog: 100mm
Täpsus: 0,0005mm. Asukoha piiramisega mõlemal positiivsel ja negatiivsel piiril ning nullipositsiooniga sensor; autofokuseerimisfunktsiooni alg-, lõpp- ja sammu pikkus saab tarkvaras seada Gaussi regressioonimeetodil; määrake spetsifiline integreerimisaeg ja koguge fookusmeetodiga intensiivsus.

Toote struktuur

Spetsifikatsioon

Optiline süsteem:

Sissetuleva nurk	65°
Püstideviatsioon	< 0.3°
Mõõtuparametrid	Psi&Del, TanPsi&CosDel, Alpha&Beta
Polarisaatorid	Glan-Thompson
Materjal	a-BBO
Kompensator	veerandlaine faasivõrrand, hüperehakromaatiline
Intensiivsuse valik	Lineaarne optilise tiheuse valimise element. Tagab hea signaalipiiranguga suhe mõõtmisprotsessis, parandab andmete täpsust, vältib valguse intensiivsuse sättumist või liiga nõrgast valgust, mis vähendaks signaalipiiranguga suhet ja täpsust
Optiline disain	kaks kihti kiudab valguse lämpist spektrometri juurde polaarsustusselementide kaudu; stabiilne valgus tee, lihtne lampide vahetamine
Vill	ant UV passiivne; NA=0.22; selge avatus 600um
Mikrovalguspott	raadius ≤200um, et eristada kasulikku valgust, mis tuleb eespoolt tagasi ja kasutamatut valgust, mis tuleb alumine pind, lihtne demonteerida
Revit	1 50um, et eristada kasulikku valgust, mis tagastatakse eespinna poolt, ja kasutu valgust, mis tagastatakse alumisest pinna pind

Põhieelistuste parameetrite tabel:

Spektraalne ulatus	350-1000nm	C			Nähtavad
		210-1000nm	Uc			UV-Visiilne
		210-1700nm	Un			UV-Vis-NIR
Optiline kompensator	RC				Ühekskülgne kompensator
Optiline kompensator		RC2		C2		Kahekordne kompensator
Spektraalne ulatus	X-Y			M	Suur samm kuni 230mm
Spektraalne ulatus		X-R			R	Suur diameter kuni 300mm

Pakendamine ja kohaletoimetamine

Ettevõtte profiil

Minder-Hightech on müüja ja teenuse esindaja semikonduktori- ja elektronikatootmise seadmete valdkonnas. Alates 2014. aastast on ettevõte pühendunud klientidele suuremate, usaldusväärsete ja ühekordsed lahendused masiniseadmete jaoks pakuma.

KKK

1. Hindade kohta:
Meie kõik hinnad on konkurentsivõimas ja läbipaistvad. Hind sõltub seadme konfiguratsiooni ja kohandamise keerukusest.

2. Mustrite kohta:
Võime pakkuda teil näidisetooteid, kuid te peate maksuma mõned tasud.

3. Makse kohta:
Kava kinnitamise järel peate meile esmakordselt maksumaks kaupade ettevalmistamise hoiustena. Kui seadmed on valmis ja te olete tasunud jäägi, saadame need edasi.

4. Toimetamine kohta:
Seadmete tootmise lõpetamise järel saadame teile vastuvõtuvideo, samuti võite te seda vajadusel kontrollida kohtadel.

5. Installimine ja silumine:
Kui seade on teie tööstuses, saadame meie insenerid selle installimiseks ja silumiseks. Selle eest pakume eraldi hindamist.

6. Tagasi kinnitusest:
Meie seadmed on tagatud 12 kuud. Tagakaitse perioodi möödudes, kui mingi osa on katki ja tuleb asendada, tehakse selle eest ainult materjalihind.

Avaleht

Meist

MH Seadistus

Lahendus

Välismaalased Kasutajad

Video

Kontakt Meega

Teadusliku uurimise Semiõhkondajad Optiline spektrum Spektroskoopiline ellipsoomeeter

Spektroskoopne ellipsoomeeter

Mõõdukas:

Toote funktsioon:

Mõõtmispõhimõte:

Tööriist töökeskkond:

Spektromeeter:

Valgusallikasüsteem:

Staag autofokuseerimisfunktsiooniga:

Rohkem tooteid

MD-FS Sarja kondensaatorite rullimasin

MD-FDS Sarja automaatne kondensaatorite rullimasin

MD-EFS Sarja kondensaatorite rullimasin

MD-EDFS Sarja filmikondensaatorite rullimasin

Päring

Articles

Products

Get In Touch

Teadusliku uurimise Semiõhkondajad Optiline spektrum Spektroskoopiline ellipsoomeeter

Spektroskoopne ellipsoomeeter

Mõõdukas:

Toote funktsioon:

Mõõtmispõhimõte:

Tööriist töökeskkond:

Spektromeeter:

Valgusallikasüsteem:

Staag autofokuseerimisfunktsiooniga:

Rohkem tooteid

Päring

Articles

Products

Get In Touch

Oleme ühenduses